特許
J-GLOBAL ID：200903032213262232

超音波探傷装置

発明者：
井上 悟

井上 悟 について

, 
山口 辰夫

山口 辰夫 について

, 
清水 淳一

清水 淳一 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-088230
公開番号（公開出願番号）：特開2000-283966
出願日： 1999年03月30日
公開日（公表日）： 2000年10月13日
要約：
【要約】【課題】 この発明は、被検体の欠陥検出の精度に優れた超音波探傷装置を得ることを目的とする。【解決手段】 水24が貯留された容器23と、上面に被検体26を載置したステージ25と、被検体26に水24を介して超音波を送信し、反射波を受信する超音波探触子27とを備え、被検体26の複数箇所において超音波探触子27より超音波を送信して反射波を受信することにより被検体26の状態を判断する超音波探傷装置において、超音波が被検体26の裏面にて反射する裏面反射波Bを検出する反射波区別手段34と、裏面反射波Bの基準裏面反射波に対する減衰率が所定の率より小さい場合は良と、また、大きい場合は不良として検出する欠陥検出手段35と、欠陥検出手段35の不良情報をカウントして被検体26の良品および不良品を判断する判断手段40とを備えたものである。
請求項（抜粋）：
超音波が伝達可能な伝達媒体が貯留された容器と、上記容器内に水平に設置され、上面に被検体を載置し、上記伝達媒体内に浸漬されるステージと、上記伝達媒体内に設置され、上記被検体に上記伝達媒体を介して超音波を送信し、反射波を受信する超音波探触子とを備え、上記被検体の複数箇所において上記超音波探触子より超音波を送信して反射波を受信することにより上記被検体の状態を判断する超音波探傷装置において、上記超音波が上記被検体の裏面にて反射する裏面反射波を検出する第1の検出手段と、上記裏面反射波の基準裏面反射波に対する減衰率が所定の率より小さい場合は良と、また、大きい場合は不良として検出する第1の欠陥検出手段と、上記第1の欠陥検出手段の不良情報をカウントして上記被検体の良品および不良品を判断する判断手段とを備えたことを特徴とする超音波探傷装置。
IPC (2件)：
G01N 29/04 503 ,  G01N 29/10 501
FI (2件)：
G01N 29/04 503 ,  G01N 29/10 501
Fターム (12件)：
2G047AA09 ,  2G047AD19 ,  2G047BA02 ,  2G047BA03 ,  2G047BB06 ,  2G047BC03 ,  2G047BC07 ,  2G047EA10 ,  2G047GG24 ,  2G047GG28 ,  2G047GG30 ,  2G047GG41
引用特許：
審査官引用 (7件)
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