特許
J-GLOBAL ID：200903032315846620

3次元形状測定装置および方法

発明者：
安部 勉

安部 勉 について

, 
三宅 弘之

三宅 弘之 について


出願人/特許権者：
富士ゼロックス株式会社

富士ゼロックス株式会社 について


代理人 (3件)： 澤田 俊夫 ,  宮田 正昭 ,  山田 英治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-199734
公開番号（公開出願番号）：特開2006-023131
出願日： 2004年07月06日
公開日（公表日）： 2006年01月26日
要約：
【課題】 複数レベルの投影パターンを投影して3次元形状を測定する際に、パターン検出を確実に行なえるようにする。 【解決手段】 パターン投影装置10aが、1つ置きに全白のストライプを配置したストライプパターンを被写体に投影する。パターン投影装置10と同光軸の第1カメラ20の撮影画像によりストライプパターンを再コード化し、再コード化したストライプパターンと、パターン投影装置10と異なる方向から撮像する第2カメラ30の撮影画像とを対応づけて被写体までの距離を算出する。ストライプパターンは256階調の中の0-127レベルを5段階に分けた6種類の輝度ストライプと全白すなわち255レベルの組み合わせである。そして、必ず0-127レベルのストライプの間に255レベルのストライプを配置している。そのため、隣り合うストライプ同士が128レベル差以上になる。【選択図】 図22
請求項（抜粋）：
所定の輝度・色相範囲で予め設定された複数レベルの輝度・色相でコード化されたストライプパターンを被写体に投影する投光器と、この投光器の光軸からずれて配置されて前記被写体を撮影するカメラと、前記ストライプパターンと前記カメラの撮影画像とに三角測量法を適用して前記被写体までの距離を算出する距離算出部とを具備し、前記ストライプパターンのコードに対応するストライプの間に全白または全黒のストライプを配置したことを特徴とする3次元形状測定装置。
IPC (3件)：
G01B 11/25 ,  G06T 1/00 ,  G01B 11/24
FI (3件)：
G01B11/24 E ,  G06T1/00 315 ,  G01B11/24 K
Fターム (38件)：
2F065AA04 ,  2F065AA06 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD03 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF05 ,  2F065FF07 ,  2F065FF09 ,  2F065GG02 ,  2F065HH06 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS13 ,  2F065UU01 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CH20 ,  5B057DA07 ,  5B057DA20 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC25 ,  5B057DC36
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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