特許
J-GLOBAL ID:200903032477006641

欠陥検査装置及び欠陥検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 小池 晃 ,  田村 榮一 ,  伊賀 誠司 ,  藤井 稔也 ,  野口 信博 ,  山口 茂
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-036789
公開番号(公開出願番号):特開2007-218629
出願日: 2006年02月14日
公開日(公表日): 2007年08月30日
要約:
【課題】高精度にシート状成形体の欠陥を検出することができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。【解決手段】一定幅で長手方向に連続するシート状成形体2を所定方向に搬送する搬送手段3と、シート状成形体2を照明する照明4と、照明されたシート状成形体2の幅方向の全領域を含む2次元画像を撮像する撮像部51〜5nと、撮像された2次元画像に基づいて欠陥を検出し、欠陥の2次元画像上の座標位置をシート状成形体2上の座標位置に変換する解析装置6とを備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
シート状成形体の被検査体を所定の搬送方向に連続して搬送する搬送手段と、 上記搬送手段で搬送された被検査体を照明する照明手段と、 上記照明手段で照明された被検査体の上記搬送方向に直交する幅方向の2次元画像を撮像する1又は複数の撮像手段と、 上記撮像手段で撮像された2次元画像に基づいて欠陥を検出する欠陥検出手段と、 上記欠陥検出手段で検出された欠陥の上記2次元画像上の座標位置を上記被検査体上の座標位置に変換する座標変換手段と を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
IPC (1件):
G01N 21/892
FI (1件):
G01N21/892 A
Fターム (13件):
2G051AA41 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G051DA15 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051ED21
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 外観検査方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-050051   出願人:株式会社日立国際電気
  • 表面欠陥検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-090574   出願人:日産自動車株式会社
審査官引用 (5件)
  • 画像表示方法および装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-154138   出願人:三菱レイヨン株式会社
  • 特開昭62-138740
  • 鋼板の疵検出方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-224851   出願人:新日本製鐵株式会社
全件表示

前のページに戻る