特許
J-GLOBAL ID：200903032604852220

X線撮像装置、これに用いるX線源、及び、X線撮像方法

発明者：
百生 敦

百生 敦 について


出願人/特許権者：
国立大学法人 東京大学

国立大学法人 東京大学 について


代理人 (1件)： 成瀬 重雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-328965
公開番号（公開出願番号）：特開2008-145111
出願日： 2006年12月06日
公開日（公表日）： 2008年06月26日
要約：
【課題】発生したX線の利用効率が高い、タルボ・ロー干渉計方式の高感度X線撮像装置を提供する。【解決手段】電子源11により、ターゲット12に向けて電子線111を照射する。ターゲット12は、電子線111の照射によってX線8を発生する。制御部13は、電子線111を、ターゲット12上において走査させる。これにより、ターゲット12を縞状に励起して、X線8を発生させることができる。第一格子3は、ターゲット12から発生したX線8を回折する。第二格子4は、第一格子3で回折したX線8をさらに回折する。X線画像検出器5は、第二格子4で回折したX線8を検出する。これにより、X線8の位相情報を利用した撮像が可能になる。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
X線源と、第一格子と、第二格子と、X線画像検出器とを備えており、 前記X線源は、ターゲット励起ビーム源と、ターゲットと、制御部とを備えており、 前記ターゲット励起ビーム源は、前記ターゲットに向けて励起ビームを照射するものであり、 前記ターゲットは、前記励起ビームの照射によってX線を発生するものであり、 前記制御部は、前記励起ビームを、前記ターゲット上において走査するものであり、 前記第一格子は、前記ターゲットから発生したX線を回折する構成となっており、 前記第二格子は、前記第一格子で回折したX線を回折する構成となっており、 前記X線画像検出器は、前記第二格子で回折したX線を検出する構成となっている ことを特徴とするX線撮像装置。
IPC (4件)：
G01N 23/04 ,  G21K 1/00 ,  G21K 1/06 ,  G21K 5/02
FI (4件)：
G01N23/04 ,  G21K1/00 X ,  G21K1/06 M ,  G21K5/02 X
Fターム (12件)：
2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA07 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA03 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)
引用文献：
審査官引用 (1件)

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