特許
J-GLOBAL ID：200903032998913203

臨床検査の精度管理システム

発明者：
飯泉 紀子

飯泉 紀子 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-068483
公開番号（公開出願番号）：特開2007-248090
出願日： 2006年03月14日
公開日（公表日）： 2007年09月27日
要約：
【課題】本発明の目的は、全患者試料の測定結果を対象として、測定結果が試薬あるいは装置に由来する測定誤差により徐々に変化していく傾向をリアルタイムに直接的に監視する方法と、これに基づき異常傾向を検知し適切な対処を自動的に行う精度管理システムを提供することである。【解決手段】自動分析装置あるいは分析部1から出力される測定結果を、測定順データ処理部2で逐次入力し、測定項目ごとのデータ処理を行う。監視部3は測定順データ処理部2でデータ処理された測定項目ごとの結果を蓄積し、入力部5で入力したパラメータ、あるいは、統計処理部6の統計データを使って監視する。異常を検知した場合は、入力部5で入力した指示を実行する。また、監視部3で蓄積したデータ及び異常検知時の指示は、通知部4で画面や音声により通知する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試料の測定結果を測定項目毎に測定順に記録する測定順データ記憶部と、 上記測定順データ記憶部のデータを予め定めた閾値と比較する監視部と、 上記監視部で使用する閾値を入力する入力手段と、 上記監視部で使用する閾値を決定するために、前記測定順データ記憶部に記憶された試料の測定結果の標準偏差値,平均値,中央値,最頻値,最大値,最小値,変動係数の少なくとも1つを算出する統計処理部と、 を備えたことを特徴とする臨床検査の精度管理システム。
IPC (1件)：
G01N 35/00
FI (2件)：
G01N35/00 F ,  G01N35/00 A
Fターム (5件)：
2G058GD02 ,  2G058GD05 ,  2G058GD06 ,  2G058GE09 ,  2G058GE10
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 自動分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-302505   出願人：株式会社日立製作所
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (2件)
  • Automated technical validation -- a real time expert system for decision support
  • A study of various estimators for the derivation of quality control procedures from patient erythroc

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