特許
J-GLOBAL ID：200903033028266678

X線検出器及び該検出器を用いたX線異物検出装置

発明者：
大槻 智保

大槻 智保 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (1件)： 西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-168398
公開番号（公開出願番号）：特開2002-365368
出願日： 2001年06月04日
公開日（公表日）： 2002年12月18日
要約：
【要約】【課題】 異物検出の高速化と高精度化を達成できること。【解決手段】 X線発生部から曝射されたX線は、被検査物を透過してX線検出器2で受ける。X線検出器2は、X線の透過方向に沿った上下位置に配置される2つのセンサモジュール2a、2bからなる。上段のセンサモジュール2aは、シンチレータ21で可視光変換後、可視光反射体22で反射させて受光素子23によりX線透過量に対応したX線透過データを出力する。下段のセンサモジュール2bは、X線フィルタ30で所定の帯域のX線エネルギーを減衰させ、シンチレータ31で可視光変換後に受光素子33によりX線透過データを出力する。センサモジュール2bではX線フィルタ30により受けるX線の線質を変えて検査できる。上下配置された各センサモジュール2a、2bは、単一のX線を受けて被検査物の同一箇所を同時に検出する。
請求項（抜粋）：
被検査物を透過するX線の透過量から前記被検査物中の異物を検出するX線検出器において、前記被検査物に曝射されたX線の透過方向に沿った上下位置にそれぞれ配置され、前記被検査物を透過するX線の透過量に対応したX線透過データをそれぞれ出力する複数のセンサモジュール(2a,2b)と、前記X線の線質を各センサモジュールで異ならせるために、前記センサモジュールのうち所望するセンサモジュールに設けられるX線フィルタ(30)と、を備えたことを特徴とするX線検出器。
IPC (4件)：
G01T 1/20 ,  G01N 23/04 ,  G01V 5/00 ,  G21K 5/02
FI (5件)：
G01T 1/20 D ,  G01T 1/20 B ,  G01N 23/04 ,  G01V 5/00 A ,  G21K 5/02 X
Fターム (22件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA07 ,  2G001DA10 ,  2G001EA06 ,  2G001HA12 ,  2G001JA09 ,  2G001KA20 ,  2G001LA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11 ,  2G001SA01 ,  2G001SA04 ,  2G088EE29 ,  2G088FF02 ,  2G088GG19 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ08
引用特許：
審査官引用 (3件)

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