蛍光磁粉探傷方法および蛍光磁粉探傷装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：曽々木太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-090329
公開番号（公開出願番号）：特開2001-281226
出願日： 2000年03月29日
公開日（公表日）： 2001年10月10日
要約：

【要約】【課題】いわゆる磁紛溜りなどを原因とする孤立的なノイズを傷として検出せず、かつ連続性の乏しい傷を真性の傷として検出することができる蛍光磁粉探傷方法および装置を提供する。【解決手段】被検査材CをCCDカメラ13より撮像して探傷画像を得た後、これをを閾値処理して被検査材Cの傷を蛍光磁粉探傷するものであって、前記被検査材C上の所定の微小領域毎に傷が含まれている可能性があるか否かを判定して傷候補を抽出し、この抽出された傷候補の中で連続性が想定可能でありかつ互いに隣接しない各傷候補の間を補間する補間処理するとともに、互いに隣接する各傷候補からなる集団に対して細線化処理し、その細線化処理された画像を閾値処理して傷を検出するものである。

請求項（抜粋）：

被検査材を撮像手段により撮像し、これにより得られた画像を閾値処理して被検査材の傷を探傷する蛍光磁粉探傷方法であって、前記被検査材上の所定の微小領域毎に傷が含まれている可能性があるか否かを判定する手順と、前記判定結果により傷が含まれている可能性があるとされた微小領域を傷候補として抽出する手順と、前記抽出された傷候補の中で連続性が想定可能であり、かつ互いに隣接しない各傷候補の間を補間する補間処理する手順と、互いに隣接する各傷候補からなる集団に対して細線化処理する手順と、前記細線化処理された画像を閾値処理して傷を検出する手順とを含んでなることを特徴とする蛍光磁粉探傷方法。

IPC (2件)：

G01N 27/84 , G01N 21/91

FI (2件)：

G01N 27/84 , G01N 21/91 B

Fターム (31件)：

2G051AA37 , 2G051AB02 , 2G051AC16 , 2G051BA05 , 2G051BC06 , 2G051CA03 , 2G051CA04 , 2G051CA07 , 2G051CC13 , 2G051CD04 , 2G051CD07 , 2G051EA11 , 2G051EA14 , 2G051EA23 , 2G051EA25 , 2G051EB01 , 2G051EB02 , 2G051EC03 , 2G051ED07 , 2G051GB02 , 2G051GC04 , 2G051GD02 , 2G051GD06 , 2G053AA11 , 2G053AB22 , 2G053BA13 , 2G053CB24 , 2G053CB27 , 2G053DB07 , 2G053DC18 , 2G053DC20

引用特許：

審査官引用 (8件)

特開昭62-052454
特開平4-157353
特開昭62-284485

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