特許
J-GLOBAL ID:200903033502845790

電子写真感光体の膜厚測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 野河 信太郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-168371
公開番号(公開出願番号):特開2000-356859
出願日: 1999年06月15日
公開日(公表日): 2000年12月26日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 基体表面を粗面化した感光体でも、より正確に膜厚を測定すること。【解決手段】 導電性基体上に電荷発生槽および電荷輸送層を塗布形成した電子写真感光体の膜厚を光干渉法を用いて測定するに際して、膜厚を測定する時の測定波長を基体の表面粗さの十点平均粗さRzより長波長とする電子写真感光体の膜厚測定方法。測定反射光を1本のみの光ファイバーで受光し、受光する光ファイバーが、導電性基体の鉛直位置から傾斜している膜厚測定法導電性基体の表面が切削加工されたものである。
請求項(抜粋):
導電性基体上に下引層を介するか介せずして電荷発生層および電荷輸送層を塗布形成した電子写真感光体の各層の膜厚を光干渉法を用いて測定するに際して、予め導電性基体の平均表面粗さを測定し、その測定平均表面粗さより大きい値を光干渉法の測定波長として用いることを特徴とする電子写真感光体の膜厚測定方法。
IPC (2件):
G03G 5/00 101 ,  G03G 5/10
FI (2件):
G03G 5/00 101 ,  G03G 5/10
Fターム (7件):
2H068AA34 ,  2H068AA35 ,  2H068AA59 ,  2H068EA07 ,  2H068EA41 ,  2H068FB07 ,  2H068FB08
引用特許:
審査官引用 (8件)
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