特許
J-GLOBAL ID:200903033595386145
半導体基板およびその製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
佐藤 一雄 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-112696
公開番号(公開出願番号):特開平10-303208
出願日: 1997年04月30日
公開日(公表日): 1998年11月13日
要約:
【要約】【課題】 効率良くIG効果を発揮させると共に、スリップや転位が少なく機械的強度の低下が小さい半導体基板を提供する。【解決手段】 半導体基板の内部に1011個/cm3 以上の個数密度で酸素析出物を分散して存在させる。
請求項(抜粋):
半導体基板の内部に、1011個/cm3 以上の個数密度で酸素析出物が分散して存在することを特徴とする、半導体基板。
引用特許:
審査官引用 (8件)
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半導体基板及びその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-018933
出願人:住友金属工業株式会社
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特開昭63-146437
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特開昭63-146437
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特開昭60-120516
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特開昭60-120516
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エピタキシャル半導体ウエーハの製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-197597
出願人:九州電子金属株式会社, 住友シチックス株式会社
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特開昭60-247935
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特開昭59-067624
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引用文献:
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