特許
J-GLOBAL ID：200903034058761963
環境試験装置及び環境試験方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢作 和行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-155455
公開番号（公開出願番号）：特開2004-354341
出願日： 2003年05月30日
公開日（公表日）： 2004年12月16日
要約：
【課題】試験室内の回路基板への結露を防止する環境試験装置及び環境試験方法を提供する。【解決手段】回路基板20が密着固定されたコネクタチャック40に回路基板20を覆うように回路基板20が収納できる最小限の大きさの試験室形成用ハウジング25を被せ、試験室形成用ハウジング25の内部を密閉固定するように形成されたアセンブリ30を備える。このアセンブリ30の供給口から冷却ユニット7及び加熱ユニット8を介して冷却及び加熱された低露点エアーを供給し、排出口から排出することによって低露点エアーをアセンブリ30内に循環させ、回路基板20の周辺環境の温度を変化させる。このように低露点エアーによって試験室形成用ハウジング25内の温度を変化させながら回路基板20へ通電装置9を用いて通電することによって回路基板20の環境試験を行う。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
被試験基材の温度環境を少なくとも低温環境から高温環境へ変化させる環境試験装置において、
断熱部材により外壁が構成され、前記被試験基材を収納する試験室と、
前記試験室に結露する温度が低い低露点エアーを供給するエアー供給手段と、
前記エアー供給手段と前記試験室との間に設けられ、前記低露点エアーの温度を変える温度変更手段とを備えることを特徴とする環境試験装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
2G132AA20
, 2G132AB14
, 2G132AE00
, 2G132AL11
, 2G132AL21
, 2G132AL33
