特許
J-GLOBAL ID：200903034106819510
穿刺装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
吉田 稔
, 田中 達也
, 福元 義和
, 塩谷 隆嗣
, 古澤 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-193845
公開番号（公開出願番号）：特開2004-033439
出願日： 2002年07月02日
公開日（公表日）： 2004年02月05日
要約：
【課題】穿刺対象部位に分析用部品を容易に接近させることができ、もって分析用部品にサンプリングされる試料の量に不足を生じるといった不具合を生じないようにすることが可能な穿刺装置を提供する。【解決手段】穿刺用部材2を保持し、かつこの穿刺用部材2を第1の方向に前進させる機構部と、上記第1の方向と交差する第2の方向において穿刺用部材2の前進移動経路から離れた箇所に分析用部品3を配置させて保持する保持部6と、を備えている、穿刺装置Aであって、分析用部品3と穿刺用部材2との少なくとも一方は、上記第2の方向に移動可能な構成とされている。【選択図】 図13
請求項（抜粋）：
穿刺用部材を保持し、かつこの穿刺用部材を第1の方向に前進させる機構部と、
上記第1の方向と交差する第2の方向において上記穿刺用部材の前進移動経路から離れた箇所に分析用部品を配置させて保持する保持部と、
を備えている、穿刺装置であって、
上記分析用部品と上記穿刺用部材との少なくとも一方は、上記第2の方向に移動可能な構成とされていることを特徴とする、穿刺装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
4C038TA02
, 4C038UE03
, 4C038UE04
, 4C038UE09
