特許
J-GLOBAL ID：200903034375338251
三次元形状測定システム、三次元形状測定システムのデータ校正方法、及びデータ校正プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-132306
公開番号（公開出願番号）：特開2002-328013
出願日： 2001年04月27日
公開日（公表日）： 2002年11月15日
要約：
【要約】【課題】 複数の方向から測定対象物を測定して得られる測定データのデータ校正を行う際に正確なデータ校正を行うこと。【解決手段】 測定空間に多面体構造の被測定部を有するデータ校正用対象物を設置し(ステップS100)、第1及び第2の三次元測定器のそれぞれで測定を行って多面体構造の一の頂点座標を求める(ステップS104,S108)。このとき、多面体構造の平面部を測定して平面部の交点となる頂点座標を求める。この頂点座標から測定データをワールド座標系に変換するための変換パラメータを求めることにより、高精度な測定結果に基づく高精度な変換パラメータを求めることができる。
請求項（抜粋）：
測定空間に設置される測定対象物に対して複数の投光手段からレーザ光を照射し、前記各投光手段からのレーザ光が前記測定対象物で反射する反射光を受光手段で検出することにより、前記測定対象物の三次元形状を測定する三次元形状測定システムであって、前記測定空間に多面体構造の被測定部を有する校正用対象物を設置した状態で、前記複数の投光手段のそれぞれによって前記被測定部を測定するように、前記複数の投光手段を制御する制御手段と、前記各投光手段による前記被測定部の測定結果から、前記測定対象物を測定した際に前記各投光手段で測定して得られる測定データを変換して前記測定対象物に関する三次元形状データを生成するための変換パラメータを求めるデータ処理手段と、を備えることを特徴とする三次元形状測定システム。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G06T 1/00 315
, G06T 7/00
, G06T 7/60 150
G06T 1/00 315
, G06T 7/00 C
, G06T 7/60 150 S
, G01B 11/24 A
2F065AA06
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065DD03
, 2F065FF01
, 2F065FF09
, 2F065GG04
, 2F065GG22
, 2F065HH05
, 2F065HH12
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL62
, 2F065PP13
, 2F065PP22
, 2F065QQ18
, 2F065QQ31
, 2F065RR05
, 5B057BA02
, 5B057CA12
, 5B057CB13
, 5B057CH01
, 5B057CH11
, 5B057CH14
, 5B057DA13
, 5B057DA17
, 5B057DB02
, 5L096AA09
, 5L096CA14
, 5L096CA17
, 5L096DA02
, 5L096FA12
, 5L096FA64
, 5L096HA01
, 5L096MA00
