特許
J-GLOBAL ID:200903034393050001

EL表示装置およびその検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-140333
公開番号(公開出願番号):特開2002-032035
出願日: 2001年05月10日
公開日(公表日): 2002年01月31日
要約:
【要約】【課題】アクティブマトリクス型EL表示装置において、EL材料を成膜する前にTFT基板の動作の確認をおこない、最終製品の良品率を向上させ、原価を低減することを課題とする。【解決手段】画素部の駆動用TFTのドレイン領域に接続した、検査用の容量を設け、その検査用の容量の充放電を確認することによって、駆動用TFTが正常に動作するかどうかの判断をおこなう。こうして、不良品をEL成膜前に除去可能であり、製造費用の削減がはかれる。
請求項(抜粋):
絶縁基板上に、複数のソース信号線と、複数のゲート信号線と、複数の電源供給線と、複数のスイッチング用薄膜トランジスタと、複数の駆動用薄膜トランジスタとを有するEL表示装置において、一端を前記駆動用薄膜トランジスタのドレイン領域に接続し、他の一端を前記ゲート信号線に接続した検査容量を有し、前記電源供給線はスイッチを介して、前記絶縁基板の外部に引き出していることを特徴とするEL表示装置。
IPC (10件):
G09F 9/00 352 ,  G09F 9/30 330 ,  G09F 9/30 365 ,  G09G 3/20 621 ,  G09G 3/20 670 ,  G09G 3/20 680 ,  G09G 3/20 ,  G09G 3/30 ,  H05B 33/10 ,  H05B 33/14
FI (13件):
G09F 9/00 352 ,  G09F 9/30 330 Z ,  G09F 9/30 365 Z ,  G09G 3/20 621 M ,  G09G 3/20 670 Q ,  G09G 3/20 680 A ,  G09G 3/20 680 G ,  G09G 3/20 680 S ,  G09G 3/20 680 T ,  G09G 3/20 680 V ,  G09G 3/30 Z ,  H05B 33/10 ,  H05B 33/14 A
Fターム (43件):
3K007AB18 ,  3K007BA06 ,  3K007BB01 ,  3K007BB04 ,  3K007BB05 ,  3K007DA01 ,  3K007DB03 ,  3K007EB00 ,  3K007FA00 ,  5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080DD15 ,  5C080DD28 ,  5C080FF11 ,  5C080JJ03 ,  5C080JJ04 ,  5C080JJ06 ,  5C094AA42 ,  5C094AA43 ,  5C094BA03 ,  5C094BA27 ,  5C094CA19 ,  5C094DA09 ,  5C094DA13 ,  5C094DB01 ,  5C094DB02 ,  5C094DB04 ,  5C094EA03 ,  5C094EA04 ,  5C094FA01 ,  5C094FB01 ,  5C094FB12 ,  5C094FB14 ,  5C094FB15 ,  5C094GB10 ,  5C094HA10 ,  5C094JA02 ,  5G435AA17 ,  5G435BB05 ,  5G435CC09 ,  5G435EE37 ,  5G435KK05 ,  5G435KK10
引用特許:
審査官引用 (6件)
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