特許
J-GLOBAL ID:200903034393050001
EL表示装置およびその検査方法
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-140333
公開番号(公開出願番号):特開2002-032035
出願日: 2001年05月10日
公開日(公表日): 2002年01月31日
要約:
【要約】【課題】アクティブマトリクス型EL表示装置において、EL材料を成膜する前にTFT基板の動作の確認をおこない、最終製品の良品率を向上させ、原価を低減することを課題とする。【解決手段】画素部の駆動用TFTのドレイン領域に接続した、検査用の容量を設け、その検査用の容量の充放電を確認することによって、駆動用TFTが正常に動作するかどうかの判断をおこなう。こうして、不良品をEL成膜前に除去可能であり、製造費用の削減がはかれる。
請求項(抜粋):
絶縁基板上に、複数のソース信号線と、複数のゲート信号線と、複数の電源供給線と、複数のスイッチング用薄膜トランジスタと、複数の駆動用薄膜トランジスタとを有するEL表示装置において、一端を前記駆動用薄膜トランジスタのドレイン領域に接続し、他の一端を前記ゲート信号線に接続した検査容量を有し、前記電源供給線はスイッチを介して、前記絶縁基板の外部に引き出していることを特徴とするEL表示装置。
IPC (10件):
G09F 9/00 352
, G09F 9/30 330
, G09F 9/30 365
, G09G 3/20 621
, G09G 3/20 670
, G09G 3/20 680
, G09G 3/20
, G09G 3/30
, H05B 33/10
, H05B 33/14
FI (13件):
G09F 9/00 352
, G09F 9/30 330 Z
, G09F 9/30 365 Z
, G09G 3/20 621 M
, G09G 3/20 670 Q
, G09G 3/20 680 A
, G09G 3/20 680 G
, G09G 3/20 680 S
, G09G 3/20 680 T
, G09G 3/20 680 V
, G09G 3/30 Z
, H05B 33/10
, H05B 33/14 A
Fターム (43件):
3K007AB18
, 3K007BA06
, 3K007BB01
, 3K007BB04
, 3K007BB05
, 3K007DA01
, 3K007DB03
, 3K007EB00
, 3K007FA00
, 5C080AA06
, 5C080BB05
, 5C080DD15
, 5C080DD28
, 5C080FF11
, 5C080JJ03
, 5C080JJ04
, 5C080JJ06
, 5C094AA42
, 5C094AA43
, 5C094BA03
, 5C094BA27
, 5C094CA19
, 5C094DA09
, 5C094DA13
, 5C094DB01
, 5C094DB02
, 5C094DB04
, 5C094EA03
, 5C094EA04
, 5C094FA01
, 5C094FB01
, 5C094FB12
, 5C094FB14
, 5C094FB15
, 5C094GB10
, 5C094HA10
, 5C094JA02
, 5G435AA17
, 5G435BB05
, 5G435CC09
, 5G435EE37
, 5G435KK05
, 5G435KK10
引用特許:
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