特許
J-GLOBAL ID:200903034397856140
局部腐食の評価方法及び抑制方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
渡邊 薫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-228571
公開番号(公開出願番号):特開2004-069472
出願日: 2002年08月06日
公開日(公表日): 2004年03月04日
要約:
【課題】水系プラントの金属部材の局部腐食を模擬した微小内部水の水質変化を、微小電極を用いて測定し、局部腐食の発生や進行状況を評価すること。【解決手段】水系プラントの金属部材における局部腐食の模擬構造を備える人工ピット151を設け、該人工ピット151の内部水Xの水質変化を、微小電極M1を用いて測定することによって、前記金属部材における局部腐食の発生又は進行状況を評価し、前記測定結果に基づいて、前記金属部材において発生した局部腐食の発生又は進行を抑制する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
水系プラントの金属部材における局部腐食の模擬構造を備える人工ピットを設け、該人工ピットの内部水の水質変化を、微小電極を用いて測定することを特徴とする局部腐食の評価方法。
IPC (6件):
G01N27/26
, C23F11/18
, G01N17/02
, G01N27/30
, G01N27/416
, G01N33/18
FI (9件):
G01N27/26 351K
, C23F11/18 102
, G01N17/02
, G01N27/30 F
, G01N33/18 C
, G01N33/18 D
, G01N27/46 353Z
, G01N27/46 351K
, G01N27/46 321
Fターム (16件):
2G050AA01
, 2G050BA01
, 2G050CA02
, 2G050DA02
, 2G050EA05
, 2G050EB03
, 2G050EC01
, 4K062AA03
, 4K062BA08
, 4K062BA10
, 4K062BC11
, 4K062CA10
, 4K062DA01
, 4K062EA20
, 4K062FA05
, 4K062GA01
引用特許:
審査官引用 (5件)
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特開平4-028888
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特開平4-066859
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孔食の監視方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-332077
出願人:栗田工業株式会社
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孔食深さ算出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-332076
出願人:栗田工業株式会社
-
特開平2-310452
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引用文献: