特許
J-GLOBAL ID:200903034625932103

波長測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森田 雄一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-014038
公開番号(公開出願番号):特開2001-201407
出願日: 2000年01月19日
公開日(公表日): 2001年07月27日
要約:
【要約】【課題】 光源として光量変動の多いSLDを用いた場合の波長測定精度を改善する。【解決手段】光源からの照射光の光ファイバブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子の出力の比の対数を用いて前記反射光の波長を測定する波長測定装置であって、光源の発光スペクトルと、光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルと、光ファイバの透過スペクトルと、受光素子の受光感度スペクトルと、アレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルの透過スペクトルとを用いた波長決定関数に基づいて前記反射波長を測定する波長測定装置に関する。光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルの半値全幅を、目標とする波長測定精度が得られるまで大きな値にする。
請求項(抜粋):
光源からの照射光の光ファイバブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路回折格子に入射させ、このアレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子の出力の比の対数を用いて前記反射光の波長を測定する波長測定装置であって、光源の発光スペクトルと、光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルと、光ファイバの透過スペクトルと、受光素子の受光感度スペクトルと、アレイ導波路回折格子の二つの出力チャンネルの透過スペクトルとを用いた波長決定関数に基づいて前記反射波長を測定する波長測定装置において、光ファイバブラッグ回折格子の反射スペクトルの半値全幅を、目標とする波長測定精度が得られるまで大きな値にすることを特徴とした波長測定装置。
IPC (4件):
G01K 11/12 ,  G01D 5/26 ,  G01J 3/18 ,  G01L 1/24
FI (4件):
G01K 11/12 F ,  G01D 5/26 D ,  G01J 3/18 ,  G01L 1/24 A
Fターム (27件):
2F056VF02 ,  2F056VF11 ,  2F056VF16 ,  2F103BA10 ,  2F103BA28 ,  2F103BA37 ,  2F103CA06 ,  2F103EB01 ,  2F103EB11 ,  2F103EB36 ,  2F103EC08 ,  2F103ED06 ,  2F103ED18 ,  2F103FA15 ,  2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020CB23 ,  2G020CB27 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC02 ,  2G020CC06 ,  2G020CC47 ,  2G020CD05 ,  2G020CD12 ,  2G020CD24 ,  2G020CD36
引用特許:
審査官引用 (2件)

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