特許
J-GLOBAL ID：200903034712384406
感光体表面検査方法および感光体表面検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-160469
公開番号（公開出願番号）：特開平9-325120
出願日： 1996年06月03日
公開日（公表日）： 1997年12月16日
要約：
【要約】【課題】 1対の等受光系により感光体ドラムを撮像し,感光体ドラム直径や感光材料に合わせ再現性のある方法で光学系を調整し最適化する機能を備え,凹凸欠陥および濃度差欠陥の両方を検出する感光体表面検査方法および装置を提供する。【解決手段】 所定の角度をもって円筒状の感光体101の表面へ投光するライン光源104と,感光体101の表面上の投光位置における接面と平行に受光面を配置し,ライン光源104により投光され感光体101の表面によって反射あるいは拡散される光を受光するカメラ105とを備え,受光面に平行でかつ感光体101の長手方向に対し垂直方向にカメラ105を移動させ,最適な位置に移動されたカメラ105により受光された光に基づいて感光体101の表面を検査する。
請求項（抜粋）：
所定の角度をもって円筒状の感光体の表面へ投光し,投光され前記感光体の表面によって反射あるいは拡散される光を受光する受光手段の受光面を前記感光体の表面上の投光位置における接面と平行に配置し,前記受光面に平行でかつ前記感光体の長手方向に対し垂直方向に前記受光手段を移動させ,最適な位置に移動された前記受光手段により受光された光に基づいて前記感光体の表面を検査することを特徴とする感光体表面検査方法。
引用特許：
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