全反射測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岩橋祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-146792
公開番号（公開出願番号）：特開平9-304269
出願日： 1996年05月15日
公開日（公表日）： 1997年11月28日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】液状試料の温度情報が容易に得られると共に、その温度制御が適正に行える全反射測定測定装置を提供すること。【解決手段】カセグレン主鏡122およびカセグレン副鏡124を有し、前記副鏡124、主鏡122の順に反射された光を被測定試料110上に集光し、その全反射光を主鏡122、副鏡124の順に反射させて得るカセグレン鏡116と、カセグレン鏡116の下部に配置され、カセグレン鏡116の集光位置となるように配置された全反射プリズム112と、熱伝導性材料からなる試料セル111と、試料セル111を加熱および冷却する加熱冷却手段113と、前記試料セル111内の被測定試料110の温度情報をリアルタイムに検出する検知手段115と、被測定試料110温度が所定温度を保つように温度制御を行う制御手段117を備える。

請求項（抜粋）：

カセグレン主鏡およびカセグレン副鏡を有し、前記副鏡、主鏡の順に反射された光を被測定試料上に集光し、その全反射光を主鏡、副鏡の順に反射させて得るカセグレン鏡と、カセグレン鏡の下部に配置され、半球状あるいは先端が平頭な円錐状に形成され、該半球状の平面あるいは円錐状の平頭面が前記カセグレン鏡の集光位置となるように配置された全反射プリズムと、前記全反射プリズムの半球状の平面あるいは円錐状の平頭面の外径に比較し、やや大きい内径の凹部が設けられ、該凹部に被測定試料が前記全反射プリズムの半球状の平面あるいは円錐状の平頭面に当接するように入れられた熱伝導性材料からなる試料セルと、前記試料セルを加熱および冷却する加熱冷却手段と、前記試料セル内の被測定試料の温度情報をリアルタイムに検出する検知手段と、前記加熱冷却手段の温度を上昇および下降させ、前記検知手段が出力する試料セル内の被測定試料温度が所定温度を保つように温度制御を行う制御手段と、を備えたことを特徴とする全反射測定装置。

引用特許：

出願人引用 (5件)

全反射測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-142134 出願人：日本分光株式会社
特開平4-194651
低温赤外分光光度計
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-312197 出願人：株式会社日立製作所

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審査官引用 (5件)

全反射測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-142134 出願人：日本分光株式会社
特開平4-194651
低温赤外分光光度計
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-312197 出願人：株式会社日立製作所

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