特許
J-GLOBAL ID：200903035004284376
分光分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-243089
公開番号（公開出願番号）：特開平10-090166
出願日： 1996年09月13日
公開日（公表日）： 1998年04月10日
要約：
【要約】【課題】 簡単な構成及び容易な操作にて、外乱光による影響を防止する状態で試料の成分の分析をすることができる分光分析装置を提供する。【解決手段】 測定対象の試料を支持する支持手段Paと、その支持手段Paに支持されている試料に測定用光線を照射する光源1と、試料からの反射光又は透過光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成分を分析する分光分析手段Mが設けられた分光分析装置であって、支持手段Paが固定設置され、測定用光線の波長と同一波長の外乱光を遮断するように構成された覆い部Kが、外乱光が試料に照射されるのを防止し、且つ、外乱光が分光分析手段Mの受光部Iに受光されるのを防止するように設けられ、その覆い部Kが、試料の出し入れが自在なように開閉自在に構成されている。
請求項（抜粋）：
測定対象の試料を支持する支持手段(Pa)と、その支持手段(Pa)に支持されている試料に測定用光線を照射する光源(1)と、試料からの反射光又は透過光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成分を分析する分光分析手段(M)が設けられた分光分析装置であって、前記支持手段(Pa)が固定設置され、測定用光線の波長と同一波長の外乱光を遮断するように構成された覆い部(K)が、前記外乱光が試料に照射されるのを防止し、且つ、前記外乱光が前記分光分析手段(M)の受光部(I)に受光されるのを防止するように設けられ、その覆い部(K)が、試料の出し入れが自在なように開閉自在に構成されている分光分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/01 B
, G01N 21/27 Z
