特許
J-GLOBAL ID：200903035020594903
質量分析方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-301740
公開番号（公開出願番号）：特開平10-142196
出願日： 1996年11月13日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】MSnデータのための標準試料を添加することなく定量分析する。【解決手段】MS分析(ステップ503〜504)とMSn分析(ステップ505〜509)とを、途中に試料注入処理を挟むことなく、連続して行なうことにより、試料注入量の誤差によるMSデータとMSnデータとの間のイオン強度の変動を回避する。
請求項（抜粋）：
質量分析計による質量分析方法において、上記質量分析計に測定対象試料を注入するステップと、MS1データ収集ステップ、および、MSnデータ収集ステップを連続して繰り返すステップとを備え、上記MS1データ収集ステップは、上記測定対象試料をイオン化して生成したイオンについて、一定範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータを収集するステップであり、上記MSnデータ収集ステップは、上記測定対象試料をイオン化して生成したイオンのうち、あらかじめ定められた特定質量数のイオンを選別し、該特定質量数イオンを開裂させる開裂ステップと、開裂により得られたイオンについて、一定範囲の質量数を掃引してマススペクトルデータを得る掃引ステップとを備えることを特徴とする質量分析方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 27/62 D
, H01J 49/26
