特許
J-GLOBAL ID：200903076414082159
多極イオンガイドのイオントラップ質量分光測定
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
金倉 喬二
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-509973
公開番号（公開出願番号）：特表2001-500305
出願日： 1997年08月11日
公開日（公表日）： 2001年01月09日
要約：
【要約】飛行時間型質量分析計は、イオン供給源(1)と飛行時間型質量分析計のフライトチューブ(42)との間のイオン飛行通路に位置する多極イオンガイド(16)を備える。1つの好適具体例において、飛行時間(TOF)型質量分析計は、多極イオンガイドをイオン供給源(1)とTOF質量分析計のイオンパルス化領域(30)との間のイオン通路に位置せしめるよう構成される。多極イオンガイドのエレクトロニクス並びにイオンガイドの入口および出口静電レンズ(26、27および28)は、大気圧イオン供給源から供給されるイオンのトラップまたは通過を可能にするよう構成される。イオンガイドのエレクトロニクスは、イオンガイドにおける伝達もしくはトラップに成功しうるイオンの質量対電荷(m/z)範囲を選択するよう設定しうる。2組より多いm/z値を、たとえば望ましくないm/z値の共振周波数イオン取り出しによるノッチ濾過のような技術を用いて選択することができる。次いで伝達もしくはトラップ方式にて安定なイオンガイド軌道の全部または1部は、少なくとも3種の技術の1つを用いて衝突誘発解離(CID)を受けることができる。イオン断片化工程に際し多極イオンガイドACおよびDC電位は、CIDプロセスにより発生した断片イオンの全部もしくは1部を伝達もしくはトラップするよう設定される。親および断片のイオン集団の全部もしくは1部を多極イオンガイドから質量分析のため飛行時間型質量分析計のパルス化領域まで供給する。第1イオン断片化工程の後、多極イオンガイドACおよびDC電位を再び設定して、選択群以外の全断片イオンのトラップ方式にてイオンガイドをクリアする狭いm/z範囲を選択することができる。m/z選択およびイオン断片化工程を多数回反復すると共に、質量分析を全MS/MSn工程の終了時またはMS/MSnの段階的プロセスに際し種々の時点で生ぜしめる。通常の段階的MS/MSn分析機能を単一工程に合体させて効果的反復使用を増大させうる技術についても開示する。イオン伝達、トラップおよび断片化につき使用される多極イオンガイドは、1つの電圧ポンピング段階(138)に存在させることができ、或いは2つ以上の減圧ポンピング段階(18、19)まで連続的に延ばすこともできる。
請求項（抜粋）：
(a)少なくとも2つの減圧段階(前記減圧段階のそれぞれはガスをポンプ除去して部分減圧を発生させる手段を備える)と、(b)イオンを発生させると共に前記イオンを第1の前記減圧ポンピング段階に供給するイオン供給源と、(c)複数の平行ポールおよび前記複数の平行ポールにより内部に画定された内部容積からなる少なくとも1個の多極イオンガイド(前記少なくとも1個の多極イオンガイドは前記減圧ポンピング段階の少なくとも1つに位置する)と、(d)電圧を前記少なくとも1個の多極イオンガイドの前記ポールに印加する手段(前記電圧はACおよびDC成分を有する)と、(e)前記イオンを少なくとも1個の多極イオンガイドの前記領域に移動させる手段と、(f)前記少なくとも1個の多極イオンガイドの入口および出口端部に位置する電極部材と、(g)電圧を前記電極部材に印加する手段と、(h)前記減圧段階の少なくとも1つに位置する飛行時間型質量分析計および検出器と、(f.)前記少なくとも1個の多極イオンガイドの前記ポールに印加される前記電圧を制御する手段および前記電極部材に印加される前記電圧を制御して前記イオン供給源により発生した前記イオンの選択m/z値を少なくとも1個の多極イオンガイドの前記内部容積にて断片化すると共に前記断片イオンの少なくとも1部を質量分析のため前記飛行時間型質量分析計および検出器に指向させる手段とを備えることを特徴とする化学物質の分析装置。
IPC (4件)：
H01J 49/06
, B01D 59/44
, G01N 27/62
, H01J 49/40
H01J 49/06
, B01D 59/44
, G01N 27/62 K
, H01J 49/40
