特許
J-GLOBAL ID:200903035708461427

高周波回路アナライザ、高周波入力信号に対する電子デバイスの応答測定方法およびそれらの較正方法並びにそれらを含む回路の設計を改良および製造する方法。

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長門 侃二
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-520909
公開番号(公開出願番号):特表2006-528769
出願日: 2004年07月23日
公開日(公表日): 2006年12月21日
要約:
【課題】高周波入力信号に電子デバイスの挙動を分析するための改良された分析器と方法、および高周波デバイスを設計して製造する改良方法を提供する。【解決手段】実負荷引き出し回路201は、DUT206から出力信号を受け取って、そのとき、変更された信号をDUT206に提供して戻すDUT206に接続され、その信号は、入力信号x,yを考慮すると信号処理回路237によって変更されて、フィードバック回路237で作用する振幅ゲインと位相変化を制御する。よってポジティブフィードバックループは避けられて分析の制御のためのより良い制御が可能になる。ネットワークアナライザまたは他の信号測定装置242がDUT206のポートで観測された波形(引き出されたs-パラメータから)を記録し、その結果、様々な負荷条件の下におけるDUT206の挙動が分析される。【選択図】図10
請求項(抜粋):
所定の周波数範囲内における周波数の高周波入力信号に対する電子デバイスの応答を測定するための高周波回路アナライザであって、 分析される上記電子デバイスの作動中に接続可能な実負荷引き出し回路と、 この実負荷引き出し回路は、フィードバック回路を有し、 (i)分析されるためにデバイスから出力信号を受け取り、 (ii)この出力信号を変更し、そして (iii)分析されるために変更された上記信号を前記電子デバイスに提供して戻し、 前記フィードバック回路は、周波数範囲内のすべての周波数で振幅ゲインを制限することを特徴とする高周波回路アナライザ。
IPC (1件):
G01R 27/28
FI (1件):
G01R27/28 Z
Fターム (11件):
2G028AA05 ,  2G028BD05 ,  2G028CG01 ,  2G028CG19 ,  2G028CG20 ,  2G028CG26 ,  2G028DH15 ,  2G028GL07 ,  2G028LR08 ,  2G028LR10 ,  2G028MS03
引用特許:
審査官引用 (6件)
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