特許

J-GLOBAL ID：200903035726030689

波長計測装置

発明者： 平山 紀友 ,  佐野 安一
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-088789
公開番号（公開出願番号）：特開2000-283843
出願日： 1999年03月30日
公開日（公表日）： 2000年10月13日
要約：

【要約】【課題】 波長検出部の機械的な可動部分を不要にし、耐振性を高めると共に、製造コストの低減、歩留まりの向上を図る。【解決手段】 測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムに適用される。各ブラッグ回折格子FBG1〜FBG4からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能な回折格子型分波器(HOE)21に入射させ、その複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子PDによる光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定する。

請求項（抜粋）：

測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定する物理量測定システムにおいて、各ブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能な回折格子型分波器に入射させ、この回折格子型分波器の複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子による光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定することを特徴とする波長計測装置。

IPC (6件)：

G01J 3/18 ,  G01B 11/00 ,  G01J 5/08 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24 ,  G01M 11/00

FI (6件)：

G01J 3/18 ,  G01B 11/00 G ,  G01J 5/08 A ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24 A ,  G01M 11/00 U

Fターム (18件)：

2F065AA21 ,  2F065DD14 ,  2F065FF48 ,  2F065LL02 ,  2F065LL42 ,  2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020BA20 ,  2G020CA17 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CC02 ,  2G020CD04 ,  2G020CD13 ,  2G020CD24 ,  2G066BA18 ,  2G086DD04

引用特許：

審査官引用 (2件)

• アクティブマルチポイントファイバーレーザーセンサー
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平6-517318   出願人：ユナイテッドテクノロジーズコーポレイション
• 波長監視装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-244953   出願人：日本電信電話株式会社