特許
J-GLOBAL ID:200903035762066720

半導体識別回路

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 徳若 光政
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-142358
公開番号(公開出願番号):特開2003-332452
出願日: 2002年05月17日
公開日(公表日): 2003年11月21日
要約:
【要約】【課題】 簡単な構成で、高い信頼性のもとに個々の半導体集積回路装置又は半導体チップの識別を可能にした半導体識別回路を提供する。【解決手段】 互いに同じ製造過程をもって同一の形態として形成された第1と第2ゲート回路を含み、上記第1のゲート回路の第1の入力と出力とを接続し、上記第2のゲート回路の第1の入力に上記第1のゲート回路の共通接続された入力と出力を接続し、上記第1及び第2のゲート回路の第2の入力には、動作制御信号を供給して動作状態のときに上記第1ゲート回路と第2ゲート回路の論理しきい値の差によって決まる固有の識別情報を上記第2のゲート回路の出力信号に基づいて形成する単位識別回路の複数個を備える。
請求項(抜粋):
互いに同じ製造過程をもって同一の形態として形成された第1と第2ゲート回路を含み、上記第1のゲート回路は、第1の入力と出力とが接続され、上記第2のゲート回路の第1の入力は、上記第1のゲート回路の共通接続された入力と出力に接続され、上記第1及び第2のゲート回路の第2の入力には、動作制御信号が供給されてなり、上記第1ゲート回路と第2ゲート回路の論理しきい値の差によって決まる固有の識別情報を上記第2のゲート回路の出力信号に基づいて形成する単位識別番号発生回路の複数個を備えてなることを特徴とする半導体識別回路。
IPC (3件):
H01L 21/822 ,  H01L 21/02 ,  H01L 27/04
FI (2件):
H01L 21/02 Z ,  H01L 27/04 A
Fターム (4件):
5F038AV06 ,  5F038DF06 ,  5F038DT13 ,  5F038EZ20
引用特許:
審査官引用 (2件)

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