特許
J-GLOBAL ID：200903035867093960

パルス波形分析による単一トランスデューサ内同時発生放射線の検出

発明者：
ウォーバートン ウィリアム ケイ

ウォーバートン ウィリアム ケイ について

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タン フイ

タン フイ について

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ヘンニッヒ ヴォルフガンク

ヘンニッヒ ヴォルフガンク について


出願人/特許権者：
ウォーバートン ウィリアム ケイ

ウォーバートン ウィリアム ケイ について


代理人 (4件)： 熊倉 禎男 ,  大塚 文昭 ,  西島 孝喜 ,  須田 洋之
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-519507
公開番号（公開出願番号）：特表2009-500608
出願日： 2006年06月27日
公開日（公表日）： 2009年01月08日
要約：
【解決手段】パルス波形分析は、2つの放射線が同時発生であるか否かを判定する。第1放射線を吸収したときは、第1の短い時定数を特徴とし、且つその面積が公称的には吸収された第1放射線のエネルギーに比例している出力パルスを生成し、第2放射線を吸収したときは、第2の長い時定数を特徴とし、且つその面積が公称的には吸収された第2放射線のエネルギーに比例している出力パルスを生成する、トランスデューサが提供されている。放射線が吸収されると、出力パルスが検出され、第1時定数を表している期間に亘る第1積分値と、第2時定数を表している期間に亘る第2積分値の2つの積分値が形成される。2つの積分の値が調べられ、第1放射線、第2放射線、又は両方が、トランスデューサに吸収されたか否かが判定され、後者の条件は同時吸収事象を明らかにしている。【選択図】図13
請求項（抜粋）：
2つの放射線が同時発生か否かを判定するための方法において、 第1放射線を吸収したときは、第1の短い時定数を特徴とする出力パルスを生成し、第2放射線を吸収したときは、第2の長い時定数を特徴とする出力パルスを生成する、トランスデューサを提供する段階と、 前記トランスデューサが放射線を吸収したときに生成した出力パルスを検出する段階と、 前記第1時定数を表している第1期間に亘って前記パルスの第1積分を行い、前記第2時定数を表している第2期間に亘って前記パルスの第2積分を行う段階と、 前記第1及び前記第2の両積分の値を調べて、前記第1放射線、前記第2放射線、又はその両方が、前記トランスデューサに吸収されたか否かを判定する段階であって、後者の条件は同時吸収事象を明らかにしている段階と、 から成る方法。
IPC (2件)：
G01T 1/172 ,  G01T 1/20
FI (2件)：
G01T1/172 ,  G01T1/20 F
Fターム (10件)：
2G088EE08 ,  2G088FF02 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088FF06 ,  2G088GG18 ,  2G088KK06 ,  2G088KK15 ,  2G088KK24 ,  2G088KK28
引用特許：
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (7件)
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