特許
J-GLOBAL ID：200903036024326411

障害物検出システム及び障害物検出方法

発明者：
國井 美和

國井 美和 について


出願人/特許権者：
住友電気工業株式会社

住友電気工業株式会社 について


代理人 (1件)： 河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-367037
公開番号（公開出願番号）：特開2007-174113
出願日： 2005年12月20日
公開日（公表日）： 2007年07月05日
要約：
【課題】撮像素子の出力値を左右の撮像装置で共通の絶対温度に対応した値へ補正するようオフセット補正値を算出することにより、より障害物を検出することができる障害物検出システム及び障害物検出方法を提供する。【解決手段】車両の前方を撮像する複数の遠赤外撮像装置で撮像した複数の視差画像を取得して、画像中の障害物の存在を検出する検出装置とを備えた障害物検出システムにおいて、一の遠赤外撮像装置は、他の遠赤外撮像装置と同一の基準温度を記憶手段に記憶しておき、マトリックス状に配列された複数の撮像素子ごとに所定の温度に対する出力値を補正するオフセット補正値を算出し、表面の温度分布が略均一であり、撮像素子へ入光させる開口を開閉するシャッターの表面温度を計測し、計測した表面温度と基準温度との差に基づいて撮像素子ごとのオフセット補正値を補正する。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
車両の周辺を撮像する複数の遠赤外撮像装置と、 該複数の遠赤外撮像装置で撮像した複数の視差画像を取得して、画像中の障害物の存在を検出する検出装置とを備えた障害物検出システムにおいて、 一の遠赤外撮像装置は、 他の遠赤外撮像装置と同一の基準温度を記憶する手段と、 マトリックス状に配列された複数の撮像素子と、 該撮像素子ごとに所定の温度に対する出力値を補正するオフセット補正値を算出するオフセット補正値算出手段と、 表面の温度分布が略均一であり、撮像素子へ入光させる開口を開閉するシャッターと、 該シャッターの表面温度を計測する温度計測手段と、 計測した前記シャッターの表面温度と前記基準温度との差を算出する手段と、 算出した差に基づいて撮像素子ごとのオフセット補正値を補正する手段と を備えることを特徴とする障害物検出システム。
IPC (6件)：
H04N 7/18 ,  B60R 1/00 ,  B60R 21/00 ,  G06T 1/00 ,  H04N 1/407 ,  G08G 1/16
FI (8件)：
H04N7/18 J ,  B60R1/00 A ,  B60R21/00 624C ,  H04N7/18 N ,  G06T1/00 330B ,  H04N1/40 101B ,  G06T1/00 315 ,  G08G1/16 C
Fターム (32件)：
5B057AA16 ,  5B057BA08 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CE11 ,  5B057DA08 ,  5B057DA16 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5C054AA01 ,  5C054AA05 ,  5C054CA05 ,  5C054CC05 ,  5C054CE04 ,  5C054EA01 ,  5C054ED06 ,  5C054FD02 ,  5C054FF02 ,  5C054HA30 ,  5C077MP01 ,  5C077NN02 ,  5C077PP07 ,  5C077PP45 ,  5C077PP77 ,  5H180AA01 ,  5H180CC02 ,  5H180CC04 ,  5H180FF27 ,  5H180LL01 ,  5H180LL04 ,  5H180LL06
引用特許：
審査官引用 (7件)
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