特許
J-GLOBAL ID：200903036040739386

電池制御方法及びそのシステム

発明者：
有田 裕

有田 裕 について

, 
板橋 武之

板橋 武之 について

, 
河原 洋平

河原 洋平 について

, 
嶋田 基巳

嶋田 基巳 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-335512
公開番号（公開出願番号）：特開2008-256673
出願日： 2007年12月27日
公開日（公表日）： 2008年10月23日
要約：
【課題】 二次電池の使用に伴い、二次電池の状態(充電量,温度)が大きく変化する場合では、内部抵抗値は電池状態に依存するため、誤差により算出した劣化度(内部抵抗の上昇率)が変化し、安定して求めることが困難であった。【解決手段】 内部抵抗は特に温度に依存して大きくなることから、測定データから求めた内部抵抗値を温度ごとに管理し、温度ごとにサンプルデータを増やし、その内部抵抗値を平均した後、温度全体で平均した内部抵抗を基準内部抵抗と比較することで、センサ誤差やテーブル誤差などの影響を抑え、安定した劣化度を求めることが実現できる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
少なくとも1つ以上の電池と、 制御回路とを備えた電池制御システムにおいて、 前記電池の電池状態情報を検出するセンサと、 前記センサからの電池状態情報から内部抵抗値を算出する内部抵抗計算手段と、 該内部抵抗値を前記電池の温度域毎に保持する内部抵抗保持手段と、 前記電池の温度域毎の基準内部抵抗値と算出した内部抵抗値とを比較する劣化判定手段とを備えて、 前記電池の劣化度を判定することを特徴とする電池制御システム。
IPC (3件)：
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00
FI (4件)：
G01R31/36 A ,  H01M10/48 P ,  H02J7/00 B ,  H02J7/00 Y
Fターム (29件)：
2G016CB05 ,  2G016CB06 ,  2G016CB12 ,  2G016CB13 ,  2G016CB31 ,  2G016CC01 ,  2G016CC03 ,  2G016CC04 ,  2G016CC06 ,  2G016CC07 ,  2G016CC16 ,  2G016CC24 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  2G016CE08 ,  2G016CF06 ,  5G503BB01 ,  5G503EA08 ,  5G503GD03 ,  5G503GD06 ,  5H030AA01 ,  5H030AS03 ,  5H030AS08 ,  5H030BB00 ,  5H030FF22 ,  5H030FF41 ,  5H030FF42 ,  5H030FF44 ,  5H030FF67
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (2件)

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