特許
J-GLOBAL ID：200903036244771254

フィルム検査方法およびそれを用いたフィルム検査装置

発明者：
廣瀬 修

廣瀬 修 について


出願人/特許権者：
住友化学工業株式会社

住友化学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 原 謙三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-024963
公開番号（公開出願番号）：特開平11-223608
出願日： 1998年02月05日
公開日（公表日）： 1999年08月17日
要約：
【要約】【課題】 多層型偏光フィルムにおけるエッジ近傍の欠陥を確実にかつ高速で検出するための、フィルム検査方法およびそれを用いたフィルム検査装置を提供する。【解決手段】 垂直方向に延びる光をフィルムに照射し、このフィルムの画像を取得して検査範囲となるエッジ近傍を特定する(S11〜S14)。そして、水平方向およびエッジ方向に画像を解析して、欠陥の有無を検査する(S15・S16)。欠陥の検出前に、検査にかかるフィルムのエッジにおける画像上の位置を特定するので、検査の度に画像上のフィルムの位置が変化してしまっても、エッジとその近傍とを映している画素の位置を把握することができる。従って、欠陥明度を発生している画素が、フィルムの内を映しているか否かを明確にすることができる。これにより、エッジ近傍の欠陥検査を自動化することが可能となり、欠陥を確実にかつ高速で検出することができる。
請求項（抜粋）：
フィルムに光を照射し、このフィルムを撮像して得られる画像を解析してフィルムの欠陥を検出するフィルム検査方法において、画像におけるエッジの近傍を映している画素を特定する第1の工程と、この第1の工程において特定された画素を解析してフィルムの欠陥を検出する第2の工程とを含んでいることを特徴とするフィルム検査方法。
IPC (2件)：
G01N 21/89 ,  G01M 11/00
FI (2件)：
G01N 21/89 A ,  G01M 11/00 T
引用特許：
審査官引用 (4件)
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