方位計測システム

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)： ▲高▼橋克彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-079557
公開番号（公開出願番号）：特開2004-286613
出願日： 2003年03月24日
公開日（公表日）： 2004年10月14日
要約：

【課題】異常な磁場環境における測定を防止し、計測場所の変更およびオフセット補正の必要性を指示するとともに、超小型、低消費電力を実現すること。【解決手段】XおよびY軸方向の磁場を検出する二つの磁気センサ11および12からなる磁気検出器1と、X、Y軸方向の磁気情報Hx、Hyからオフセット分を差し引き補正するオフセット補正装置3と、補正された磁気情報をHx、Hyから方位を求める方位算出装置4と、算出された方位その他を表示する表示装置5および前記磁場ベクトルの絶対値Haを演算してあらかじめ設定された基準レベルと比較して異常磁場の判定をする異常磁場判定装置6とから成る方位計測システム。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

地球磁場をX、Yの2方向の成分として検出する2つの磁気センサと方位角を算出する方位演算装置と算出された方位を表示する表示装置からなる磁気コンパスとしての方位計測システムにおいて、前記2つの磁気センサが検出した磁気ベクトルのレベルに基づいて、少なくとも方位計測を開始する時に方位計測する場所における磁場環境が異常か否かを判別する異常磁場判定装置と、該異常磁場判定装置の判別結果に基づく情報を表示する表示手段を備えたことを特徴とする方位計測システム。

IPC (1件)：

G01C17/28

FI (1件)：

G01C17/28 C

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭59-210317
特開昭57-084310
ICチップ、MIセンサ、及び電子機器
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-318251 出願人：株式会社リコー

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