特許
J-GLOBAL ID：200903036541767134
光ファイバ多点物理量計測システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-161080
公開番号（公開出願番号）：特開2002-352369
出願日： 2001年05月29日
公開日（公表日）： 2002年12月06日
要約：
【要約】【課題】多数のFBG(光ファイバブラッググレーティング素子)が接続可能で誤信号がなく一括監視可能な光ファイバ多点物理量計測システムを提供する。【解決手段】光源部11からの光、FBG15の反射光を伝送する光幹線部12、光幹線部12上に列状に設置され光分岐部13、反射光の波長が異なる複数のFBG15が、FBG15と光分岐部13との距離が長くなるにしたがって反射光波長が長波長側になるように、列状に配置された光分岐路部14、光幹線部12から反射光を検出処理する光検出処理部16、光源部12と光検出処理部16の間の制御を行う信号処理制御部17、および全FBG15の接続位置・距離と反射波長に係る情報が格納され、信号処理時にこれらの情報を用いて各FBG15のデータを識別処理するデータ処理部18から構成される。
請求項（抜粋）：
複数の物理量計測用の光ファイバブラッググレーティング素子(以下「FBG」という。)が光ファイバで接続されている光ファイバ多点物理量計測システムにおいて、光源部から出力される計測用の光およびFBGの反射光を伝送する光幹線部と、この光幹線部に列状に配設され、計測用の光を光幹線部から分岐させる複数の光分岐部と、分岐された光およびFBGの反射光を伝送させる一方、反射光の波長が異なる複数のFBGが、前記光分岐部とFBGとの距離が長くなるにしたがって反射光の波長が長波長側になるように、列状に配設された光分岐路部と、前記FBGからの反射光を検出・処理する光検出処理部と、前記光源部と光検出処理部との間の制御を行う信号処理制御部と、全てのFBGの接続位置または距離条件と反射光波長に関する情報が格納されており、信号処理時に格納情報を利用して各FBGのデータを識別および処理するデータ処理部とを有することを特徴とする光ファイバ多点物理量計測システム。
IPC (4件)：
G08C 15/06
, G02B 6/00
, H04B 10/00
, H04B 10/22
G08C 15/06 K
, G02B 6/00 B
, H04B 9/00 A
2F073AA22
, 2F073AB01
, 2F073BB06
, 2F073BC04
, 2F073CC02
, 2F073CD11
, 2F073CD24
, 2F073DD05
, 2F073FF08
, 2F073FG01
, 2F073FG02
, 2F073FH03
, 2F073FH07
, 2F073FH17
, 2F073FH20
, 2H038AA12
, 2H038AA34
, 2H038BA27
, 5K002AA01
, 5K002AA03
, 5K002BA04
, 5K002BA05
, 5K002BA06
, 5K002BA21
, 5K002FA01
, 5K002GA03
