特許
J-GLOBAL ID：200903037166130073

位相差フィルム

発明者：
稲垣 真治

稲垣 真治 について


出願人/特許権者：
コニカミノルタオプト株式会社

コニカミノルタオプト株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-044147
公開番号（公開出願番号）：特開2009-204673
出願日： 2008年02月26日
公開日（公表日）： 2009年09月10日
要約：
【課題】本発明の目的は、正面コントラストに優れた位相差フィルムを提供することにある。【解決手段】透明フィルム上に、棒状の液晶を垂直に配向させて配向を固定した光学異方性層を有してなる位相差フィルムであって、該光学異方性層がカルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基若しくはその塩、またはOH基から選択される基を少なくとも一種有するフッ素系化合物を含み、かつ該透明フィルムがゴニオフォトメーターの散乱光プロファイルの入射光90°のフィルムの散乱光強度測定であって、光源から130°の位置における散乱光強度を検出する測定する場合において、フィルム遅相軸を水平に試料台へ設置した場合と垂直に設置した場合の散乱光強度差が、0.05以下であることを特徴とする位相差フィルム。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
透明フィルム上に、棒状の液晶を垂直に配向させて配向を固定した光学異方性層を有してなる位相差フィルムであって、該光学異方性層がカルボキシル基、スルホン酸基、リン酸基若しくはその塩、またはOH基から選択される基を少なくとも一種有するフッ素系化合物を含み、かつ該透明フィルムがゴニオフォトメーターの散乱光プロファイルの入射光90°のフィルムの散乱光強度測定であって、光源から130°の位置における散乱光強度を検出する測定する場合において、フィルム遅相軸を水平に試料台へ設置した場合と垂直に設置した場合の散乱光強度差が、0.05以下であることを特徴とする位相差フィルム。
IPC (2件)：
G02B 5/30 ,  G02F 1/133
FI (2件)：
G02B5/30 ,  G02F1/13363
Fターム (23件)：
2H149AA02 ,  2H149AB05 ,  2H149DA02 ,  2H149DA12 ,  2H149DB03 ,  2H149FA02Z ,  2H149FA03Z ,  2H149FA07Y ,  2H149FA08Z ,  2H149FA14Z ,  2H149FA33Y ,  2H149FA51Y ,  2H149FA53Z ,  2H149FA58Y ,  2H149FA58Z ,  2H149FA59Y ,  2H149FD01 ,  2H191FA30X ,  2H191FA30Z ,  2H191FB05 ,  2H191GA22 ,  2H191LA22 ,  2H191PA06
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (3件)

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