特許
J-GLOBAL ID：200903037295473041

多点測距センサおよび多点測距方法

発明者：
飛田 和輝

飛田 和輝 について

, 
堀越 敦

堀越 敦 について


出願人/特許権者：
日本精工株式会社

日本精工株式会社 について


代理人 (3件)： 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  崔 秀▲てつ▼
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-012536
公開番号（公開出願番号）：特開2007-192730
出願日： 2006年01月20日
公開日（公表日）： 2007年08月02日
要約：
【課題】コスト、処理時間およびキャリブレーションの手間を要さず、しかも環境の影響を受けにくい多点測距センサを提供する。【解決手段】レンズ位置を変更しながら複数の画像を撮像素子12から取り込み、取り込んだ各画像に対応するレンズ位置を取得する。そして、画像の各区分領域について、取り込んだ各画像ごとに空間周波数が所定以上の成分を抽出し、抽出した空間周波数成分が最も大きい画像に対応するレンズ位置に基づいて、区分領域に撮影された対象物までの距離を算出する。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
光学系を介して画像を撮影する撮像手段を備え、前記撮像手段で取り込んだ画像に基づいて、複数の測定点についてその測定点までの距離を測定するセンサであって、 前記光学系の焦点位置を変更する焦点位置変更手段と、 前記焦点位置変更手段で前記焦点位置を変更しながら前記焦点位置の異なる複数の画像を前記撮像手段から取り込む画像取込手段と、 前記画像取込手段で取り込んだ各画像に対応する焦点位置を取得する焦点位置取得手段と、 前記画像の一部の領域として設定された所定の第1測定領域について、前記画像取込手段で取り込んだ各画像ごとに空間周波数が所定以上の成分を抽出する第1周波数成分抽出手段と、 前記第1測定領域とは異なる前記画像の一部の領域として設定された所定の第2測定領域について、前記画像取込手段で取り込んだ各画像ごとに空間周波数が所定以上の成分を抽出する第2周波数成分抽出手段と、 前記第1周波数成分抽出手段で前記第1測定領域について前記各画像ごとに抽出した空間周波数成分および前記焦点位置取得手段で取得した各焦点位置に基づいて、前記第1測定領域に撮影された第1測定点までの距離を算出する第1距離算出手段と、 前記第2周波数成分抽出手段で前記第2測定領域について前記各画像ごとに抽出した空間周波数成分および前記焦点位置取得手段で取得した各焦点位置に基づいて、前記第2測定領域に撮影された第2測定点までの距離を算出する第2距離算出手段とを備えることを特徴とする多点測距センサ。
IPC (4件)：
G01C 3/06 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/36 ,  G03B 13/36
FI (5件)：
G01C3/06 140 ,  G01C3/06 120P ,  G02B7/11 N ,  G02B7/11 D ,  G03B3/00 A
Fターム (25件)：
2F112AB07 ,  2F112BA05 ,  2F112BA06 ,  2F112BA07 ,  2F112BA09 ,  2F112CA04 ,  2F112DA15 ,  2F112DA28 ,  2F112FA03 ,  2F112FA21 ,  2F112FA35 ,  2F112FA45 ,  2F112GA01 ,  2H011BA31 ,  2H011BB02 ,  2H011BB04 ,  2H051BA42 ,  2H051BA47 ,  2H051CB22 ,  2H051CE14 ,  2H051CE16 ,  2H051CE21 ,  2H051CE24 ,  2H051DA03 ,  2H051DA07
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM