回路素子の測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大原拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-220282
公開番号（公開出願番号）：特開2000-055952
出願日： 1998年08月04日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：

【要約】【課題】測定された電流の波形が歪む場合、歪み波形の高調波成分を含めた誘電損失の評価を可能にする回路素子の測定装置を提供する。【解決手段】被測定物101に正弦波の交流信号を加えると、検出部2が被測定物101から交流信号を検出し、CPU3は、RAM4に被測定物101からの交流信号を記憶する。CPU3は、RAM4に記憶している交流信号に対してフーリエ変換を行い、このフーリエ変換で得た変換結果を出力する。表示装置5は、CPU3が出力する変換結果を表示する。

請求項（抜粋）：

被測定物に加えた正弦波の交流信号と、この被測定物から検出した検出信号とを用いて、この被測定物の特性を算出する回路素子の測定装置において、上記検出信号に対してフーリエ変換を行なう処理手段と、この処理手段からの変換結果を出力する出力手段とを備えることを特徴とする回路素子の測定装置。

IPC (5件)：

G01R 27/02 , G01R 23/20 , G01R 27/26 , G01R 31/00 , G01R 31/319

FI (6件)：

G01R 27/02 A , G01R 27/02 R , G01R 23/20 C , G01R 27/26 T , G01R 31/00 , G01R 31/28 R

Fターム (27件)：

2G028AA01 , 2G028BB01 , 2G028BB06 , 2G028CG02 , 2G028CG07 , 2G028CG08 , 2G028CG10 , 2G028DH04 , 2G028FK01 , 2G028FK02 , 2G028GL06 , 2G028GL07 , 2G028GL09 , 2G028LR02 , 2G028LR08 , 2G032AB01 , 2G032AD03 , 2G032AE09 , 2G032AE10 , 2G032AG01 , 2G032AH02 , 2G032AL02 , 2G036AA19 , 2G036AA28 , 2G036BB01 , 2G036BB02 , 2G036CA08

引用特許：

出願人引用 (9件)

特開昭61-051576
特開昭61-191972
特開平2-074873

全件表示

審査官引用 (6件)

ネットワークアナライザ
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-303028 出願人：株式会社アドバンテスト
特開昭61-051576
特開平2-159525

全件表示

前のページに戻る