特許
J-GLOBAL ID：200903037553641752

シール描画検査装置、および、シール描画検査方法

発明者：
高橋 祐邦

高橋 祐邦 について


出願人/特許権者：
シャープ株式会社

シャープ株式会社 について


代理人 (1件)： 石田 耕治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-279480
公開番号（公開出願番号）：特開2005-043290
出願日： 2003年07月24日
公開日（公表日）： 2005年02月17日
要約：
【課題】本発明は、コストUPを抑制しつつ、シール描画について精度の高い検査を行うことを課題とする。【解決手段】本発明に係るシール描画検査装置は、基板30などの対象物上にシール剤40の描画状態の検査を行うための装置であって、対象物30に描画されたシール剤40の仮焼きを行う仮焼き手段60、および、仮焼き手段60により仮焼きがなされている対象物上のシール剤の描画状態を検査する検査手段50を備えることを特徴とする。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
基板などの対象物上にシール剤の描画状態の検査を行うためのシール描画検査装置であって、 前記対象物に描画されたシール剤の仮焼きを行う仮焼き手段、 および、前記仮焼き手段により仮焼きがなされている対象物上のシール剤の描画状態を検査する検査手段を備える ことを特徴とするシール描画検査装置。
IPC (5件)：
G01N21/84 ,  G01B11/00 ,  G01M11/00 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1339
FI (5件)：
G01N21/84 Z ,  G01B11/00 H ,  G01M11/00 T ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/1339 505
Fターム (42件)：
2F065AA03 ,  2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065CC25 ,  2F065FF41 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP03 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ34 ,  2F065TT07 ,  2G051AA65 ,  2G051AA73 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AB12 ,  2G051BA01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G086EE10 ,  2H088FA03 ,  2H088FA11 ,  2H088FA17 ,  2H088FA21 ,  2H088FA30 ,  2H089NA39 ,  2H089NA45 ,  2H089NA53 ,  2H089NA60 ,  2H089QA09 ,  2H089QA12
引用特許：
出願人引用 (3件)

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