特許
J-GLOBAL ID：200903037608240736

直交加速を備えた多重反射型飛行時間質量分析計

発明者：
ヴェレンチコフ,アナトリ,エヌ.

ヴェレンチコフ,アナトリ,エヌ. について

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ヤヴォー,ミハイル,アイ.

ヤヴォー,ミハイル,アイ. について

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カーシン,ユーリ

カーシン,ユーリ について


出願人/特許権者：
レコ コーポレイション

レコ コーポレイション について


代理人 (2件)： 斎藤 侑 ,  伊藤 文彦
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-535611
公開番号（公開出願番号）：特表2009-512162
出願日： 2006年10月11日
公開日（公表日）： 2009年03月19日
要約：
開示された装置は、一対のグリッド無しイオンミラー(12)、ドリフト空間(13)、直交イオン加速器(14)、オプションの偏向器(15)、イオン検出器(16)、一組の周期的レンズ(17)、及びエッジ偏向器(18)を備えた多重反射型飛行時間質量分析計(MR-TOF MS)(11)を有する。MR-TOF MSにおける長い飛行によって決定される低い繰り返し速度でのイオン注入のデューティーサイクルを改善するために、多様な対策がとることができる。入射イオンビームと加速器をMR-TOF内のイオン経路に対して実質的に直交する方向に向けることができ、イオンビームの初期速度は、加速器を傾けビームを同じ角度だけ旋回させることで補償される。任意の多重反射、又はマルチターン質量分析計のデューティーサイクルを更に改善するために、イオンガイドを用いて軸方向イオン速度を変調することによってビームを時間圧縮することができる。加速器内におけるイオンの滞留時間は、ビームを静電トラップ内に閉じ込めることによって改善できる。加速器内における滞留時間を長くした装置は、感度と分解能の両方を改善できる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
イオンビームを発生するイオン源と、 イオンビームをイオンパケットに変換する直交加速器と、 前記イオン源と前記直交加速器との間でイオンを移送するインターフェースと、 のこ刃状軌道の平面内においてイオンパケットを多数回反射させる平面型多重反射分析計とを有し、 前記インターフェースを通過したイオンビームは、前記軌道平面を実質的に横切るように方向付けされる多重反射型飛行時間質量分析計(MR-TOF MS)。
IPC (3件)：
H01J 49/40 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62
FI (3件)：
H01J49/40 ,  H01J49/06 ,  G01N27/62 K
Fターム (15件)：
2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA13 ,  2G041DA14 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041GA07 ,  2G041GA09 ,  2G041GA24 ,  2G041KA02 ,  5C038FF04 ,  5C038FF07 ,  5C038FF10
引用特許：
出願人引用 (4件)
  • WO2005/001878 A2
  • 米国特許第5763878号
  • 米国特許第6020586号
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審査官引用 (2件)

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