特許

J-GLOBAL ID：200903037944018146

脳機能解析装置

発明者： 樋脇 治 ,  網田 孝司 ,  向田 嘉宏
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所 ,  広島市
代理人 (2件)： 鹿島 義雄 ,  甲斐 寛人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-191070
公開番号（公開出願番号）：特開2009-022660
出願日： 2007年07月23日
公開日（公表日）： 2009年02月05日
要約：

【課題】 TMSにより脳刺激を与えるとともに、同時に脳機能の変化を検査することができ、また、時間的に変動する脳活動に追従して最善の磁気刺激部位や磁気刺激時期を決めることができる脳機能解析装置を提供する。【解決手段】 fNIRS(近赤外分光法)により脳機能測定を行う脳機能計測部11と、TMS(経頭蓋磁気刺激)を与える脳刺激部12と、fNIRSによる脳機能測定とTMSによる脳刺激とを並行して行う制御部10とを備え、TMSによる脳刺激を加える位置やタイミングをfNIRSにより特定し、または、TMSにより脳刺激が加えられた位置をfNIRSにより特定することで正確な位置をモニタしながら脳機能を計測する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

fNIRS(近赤外分光法)により脳機能測定を行う脳機能計測部と、TMS(経頭蓋磁気刺激)を与える脳刺激部と、fNIRSによる脳機能測定とTMSによる脳刺激とを並行して行う制御部とを備え、TMSによる脳刺激を加える位置やタイミングをfNIRSにより特定し、または、TMSにより脳刺激が加えられた位置をfNIRSにより特定することを特徴とする脳機能解析装置。

IPC (2件)：

A61B 5/145 ,  A61B 10/00

FI (2件)：

A61B5/14 322 ,  A61B10/00 E

Fターム (4件)：

4C038KK01 ,  4C038KL05 ,  4C038KL07 ,  4C038KX01

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 機能的近赤外分光装置の信号解析方法及び信号解析装置、機能的近赤外分光装置並びに信号解析プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-244370   出願人：学校法人日本大学
• 近赤外線分光測光検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-259292   出願人：キャスメディカルシステムズ,インコーポレイテッド
• 磁場発生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-080173   出願人：国立大学法人東北大学, 日本素材株式会社, 株式会社マテリアル仙台

審査官引用 (1件)

• 頭表座標を脳表座標に変換する方法と、その変換データを利用する経頭蓋的脳機能測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-384369   出願人：株式会社島津製作所, 独立行政法人食品総合研究所