特許
J-GLOBAL ID：200903038486683646

動きベクトル検出装置および検出方法

発明者：
小倉 英史

小倉 英史 について


出願人/特許権者：
ソニー株式会社

ソニー株式会社 について


代理人 (1件)： 杉浦 正知
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-119116
公開番号（公開出願番号）：特開平8-294129
出願日： 1995年04月20日
公開日（公表日）： 1996年11月05日
要約：
【要約】【目的】 動きベクトル装置において、誤検出が起こりにくいようなサブサンプルを行なう。【構成】 4ライン×4画素によって構成される基準ブロックを4ライン×2画素で構成される2つの基準小ブロック41、42に分割する。また、検査ブロック43も同様にして2つの検査小ブロック44、45に分割する。基準小ブロック41、42のデータに対し、それぞれ最大値および最小値を有するデータ位置を特定する。検査小ブロックの中で、これら特定されたデータ位置に対応するデータ位置のデータを選択し、選択されたこれら検査小ブロックのデータおよび対応する基準小ブロックのデータに対し残差が算出される。このように適応的に基準ブロックをサブサンプルすることによって、固定画素をサブサンプルする方法に比べ、動きベクトルの誤検出が起こりにくくなる。
請求項（抜粋）：
基準ブロックのデータと検査ブロックのデータとを演算することによって、ブロック単位で動きベクトルを検出するような動きベクトル検出装置において、上記基準ブロックのデータの中で、該基準ブロックの特徴を比較的反映するようにデータを選択し、上記基準ブロックの中の選択された上記データと対応する検査ブロック中のデータを選択するデータ選択手段と、選択された上記基準ブロックのデータと、選択された上記検査ブロックのデータとから動きベクトルを検出するための演算手段とを有することを特徴とした動きベクトル検出装置。
IPC (2件)：
H04N 7/32 ,  H04N 11/04
FI (2件)：
H04N 7/137 Z ,  H04N 11/04 B
引用特許：
審査官引用 (4件)
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