特許
J-GLOBAL ID：200903038770104940
クロマトグラフ分析または試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
浅村 皓 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-532075
公開番号（公開出願番号）：特表2001-502046
出願日： 1997年06月27日
公開日（公表日）： 2001年02月13日
要約：
【要約】試験サンプル中の分析物を検出および(または)測定するクロマトグラフ分析または試験装置は、ベース部材と、前記部材中またはその上に位置するクロマトグラフ媒質とを備え、ベース部材にはサンプルを適用したアプリケータを受ける受け器を設け、アプリケータは、前記受け器内に位置する場合、アプリケータがクロマトグラフ媒質と流体接触しない第1位置と、アプリケータ上のサンプルをクロマトグラフ媒質に適用するようにアプリケータがクロマトグラフ媒質と流体接触する第2位置との間で移動できる。代替態様では、試験装置はベース部材と第2部材とを備え、ベース部材と第2部材の少なくとも一方がクロマトグラフ媒質を含み、第2部材がベース部材に対して第1位置から第2位置へ摺動可能である。
請求項（抜粋）：
試験サンプル中の分析物の検出および(または)測定のためのクロマトグラフ分析または試験装置であって、 (a)ベース部材と、 (b)前記ベース部材中またはその上に配置されたクロマトグラフ媒質とを備え、前記ベース部材には前記サンプルを有するアプリケータを受ける受け器が設けられ、前記アプリケータは、前記受け器内に位置する場合、前記受け器内にある前記アプリケータが前記クロマトグラフ媒質と流体接触していない第1位置と、前記アプリケータ上のサンプルを前記クロマトグラフ媒質に適用するように、前記受け器内にある前記アプリケータが前記クロマトグラフ媒質と流体接触する第2位置との間で移動可能である分析または試験装置。
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (8件)
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