特許
J-GLOBAL ID：200903038971742847

微粒子標識を使用した分析物アッセイ

発明者：
イゲラバイド,ジュアン

イゲラバイド,ジュアン について

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イゲラバイド,エヴァンゲリーナ・イー

イゲラバイド,エヴァンゲリーナ・イー について

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コーン,デビット・イー

コーン,デビット・イー について

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ジャクソン,ジェフリー・ティー

ジャクソン,ジェフリー・ティー について


出願人/特許権者：
ゼニコン・サイエンシーズ・コーポレーション

ゼニコン・サイエンシーズ・コーポレーション について


代理人 (1件)： 社本 一夫 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-538227
公開番号（公開出願番号）：特表2000-510582
出願日： 1997年04月17日
公開日（公表日）： 2000年08月15日
要約：
【要約】試料中の1つ以上の分析物の特異的な検出法。この方法は、試料中の1つ以上の任意の分析物を、散乱光の検出が可能な粒子と特異的に会合させる段階と、前記粒子から散乱光が生じ、かつ1個以上の該粒子から散乱した光を、電子増幅せずに500倍未満の倍率で肉眼検出し得る条件下で、該分析物と会合した任意の粒子に光を照射する段階とを含む。この方法はまた、このような任意の粒子によってそれらの条件下で散乱された光を、分析物の存在の目安として検出する段階をも含む。
請求項（抜粋）：
試料中の1つ以上の分析物の特異的な検出法であって、 前記試料中の前記1つ以上の分析物に散乱光が検出可能な粒子を特異的に会合させる段階と、 前記粒子から散乱光が生じ、かつ1個以上の前記粒子から散乱した光を電子増幅せずに500倍未満の倍率で肉眼検出し得る条件下で、前記分析物と会合した前記粒子に光を照射する段階と、 前記条件下で前記粒子によって散乱された前記光を、前記1つ以上の分析物の存在の目安として検出する段階とを含む方法。
IPC (6件)：
G01N 33/536 ,  G01N 21/47 ,  G01N 33/543 541 ,  G01N 33/553 ,  C12N 15/09 ,  C12Q 1/68
FI (6件)：
G01N 33/536 E ,  G01N 21/47 Z ,  G01N 33/543 541 Z ,  G01N 33/553 ,  C12Q 1/68 A ,  C12N 15/00 A
引用特許：
審査官引用 (29件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)
  • Subject:光と波長と色 カテゴリー:学びの館

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