特許
J-GLOBAL ID:200903038992700354

多軸応力負荷試験装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 波多野 久 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-096397
公開番号(公開出願番号):特開2002-296161
出願日: 2001年03月29日
公開日(公表日): 2002年10月09日
要約:
【要約】【課題】試験片のZX面およびZY面に応力を与えて試験を行う多軸応力負荷試験装置を提供する。【解決手段】試験片15を挟む一側面に配置した第1試験治具17と、試験片15を挟む他側面に配置した第2試験治具19と、第1試験治具17および第2試験治具19から試験片15のZX面およびZY面に応力を与えるボルト30とを備えた。
請求項(抜粋):
試験片を挟む一側面に配置した第1試験治具と、前記試験片を挟む他側面に配置した第2試験治具と、前記第1試験治具および前記第2試験治具から前記試験片のZX面およびZY面に応力を与えるボルトとを備えたことを特徴とする多軸応力負荷試験装置。
IPC (2件):
G01N 3/20 ,  G01N 3/04
FI (2件):
G01N 3/20 ,  G01N 3/04 P
Fターム (8件):
2G061AA07 ,  2G061AB01 ,  2G061AB08 ,  2G061CB01 ,  2G061DA01 ,  2G061DA16 ,  2G061EA04 ,  2G061EB04
引用特許:
審査官引用 (2件)

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