特許

J-GLOBAL ID：200903071861156915

周波数掃引誤差検出方法および回路、光周波数掃引光源、ならびに光周波数領域反射測定回路

発明者： 辻 幸嗣 ,  清水 薫 ,  堀口 常雄 ,  小山田 弥平
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 古谷 史旺
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-024392
公開番号（公開出願番号）：特開平9-218130
出願日： 1996年02月09日
公開日（公表日）： 1997年08月19日
要約：

【要約】【課題】 正確な周波数掃引誤差の検出により直線性のよい光周波数掃引を可能とする周波数掃引誤差検出方法および回路、光周波数掃引光源、ならびに高い距離分解能が得られる光周波数領域反射測定回路を実現する。【解決手段】 光周波数掃引光源の出力光を2光路干渉系に入力し、その一方の光路を通る光に所定の周波数シフトを与え、この上側帯波同士のビート信号または下側帯波同士のビート信号の一方をバンドパスフィルタで選択し、その周波数変動を測定し、光周波数掃引光源の周波数掃引誤差を検出する。

請求項（抜粋）：

光周波数掃引光源の出力光を2光路干渉系を介して光受信器で受信し、得られたビート信号の周波数変動から光周波数掃引光源の周波数掃引誤差を検出する周波数掃引誤差検出方法において、前記2光路干渉系の一方の光路を通る光に所定の周波数シフトを与え、N次(Nは0でない整数)の上側帯波同士のビート信号とN次の下側帯波同士のビート信号を周波数軸上で分離し、前記上側帯波同士のビート信号または前記下側帯波同士のビート信号の一方を選択してその周波数変動を測定し、前記光周波数掃引光源の周波数掃引誤差を検出することを特徴とする周波数掃引誤差検出方法。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ,  H01S 3/10 ,  H01S 3/103

FI (3件)：

G01M 11/00 T ,  H01S 3/10 A ,  H01S 3/103

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 周波数可変特性評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-268431   出願人：安藤電気株式会社
• 特開平4-035079
  
• 光周波数領域反射測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-309311   出願人：日本電信電話株式会社