特許

J-GLOBAL ID：200903039148383684

3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法

発明者： 安部 勉
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (1件)： 澤田 俊夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-207875
公開番号（公開出願番号）：特開2002-027501
出願日： 2000年07月10日
公開日（公表日）： 2002年01月25日
要約：

【要約】【課題】 パターン照射画像に基づく距離データ算出に用いるパターン投光手段の簡易な構成を実現する3次元画像撮像装置を提供する。【解決手段】フォトマスクなどの透過マスクによる光学フィルターと、パターンを投影する為の光源を構成要素とするパターン投光手段を構成する。パターン光を不可視領域光、例えば近赤外光とする場合は、フィルターは赤外カット用のマスクを用い、形成パターンに対応させて透過率を変化させて強度分布を持たせる。本構成により、レーザを用いた構成と異なり駆動系が不要なため振動に強く、特殊な装置や制御装置がいらないために単純な構造が実現できる。また、ハーフミラーを用いて撮像手段と組み合わせることにより、コンパクトな撮像および投光手段構成が実現される。

請求項（抜粋）：

測定対象に投影するパターンに対応させて光透過態様を変化させたパターンを形成した光学フィルター、および光源とを備えた投光手段と、前記投光手段の光軸方向から投影パターンを撮影する第1の撮像手段と、前記投光手段の光軸方向と異なる方向から前記投影パターンを撮影する第2の撮像手段とを備え、前記第2の撮像手段の撮影した撮影パターンに基づいて第1の距離情報を生成する構成を有することを特徴とする3次元画像撮像装置。

IPC (6件)：

H04N 13/02 ,  G01B 11/24 ,  G01B 11/25 ,  G01B 11/245 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 420

FI (7件)：

H04N 13/02 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 420 A ,  G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K ,  G01B 11/24 E ,  G01B 11/24 N

Fターム (50件)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD02 ,  2F065FF01 ,  2F065FF07 ,  2F065GG23 ,  2F065HH07 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL20 ,  2F065LL22 ,  2F065LL25 ,  2F065LL26 ,  2F065LL46 ,  2F065NN03 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  5B047AA07 ,  5B047AB02 ,  5B047BB06 ,  5B047BC05 ,  5B047BC09 ,  5B047BC11 ,  5B047CB08 ,  5B047CB22 ,  5B047DC09 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA13 ,  5B057CB12 ,  5B057CC01 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5C061AA20 ,  5C061AA23 ,  5C061AB06 ,  5C061AB08

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 3次元画像撮影装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-247796   出願人：富士ゼロックス株式会社
• 干渉計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-356740   出願人：理化学研究所