部品検査方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：森下賢樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-378199
公開番号（公開出願番号）：特開2002-181731
出願日： 2000年12月12日
公開日（公表日）： 2002年06月26日
要約：

【要約】【課題】製造工程の多様化および高速化に、検査工程の速度が対応しきれなくなりつつあった。【解決手段】外観検査装置10は、メインユニット12と試験ユニット14とを含む。試験ユニット14には、被検査体である基板1を把持させる支持台22、ステッピングモータ20、ラインセンサ34などが設けられる。メインユニット12には、メモリ44、解析ユニット46などが設けられる。解析ユニット46は、判定基準または検査ファイルに基づいて画像解析する。履歴記録ユニット51は、検査ファイルの履歴を記録する。

請求項（抜粋）：

被検査体の撮影画像を、前記被検査体の正常状態をその機種に応じて記録した検査ファイルに基づいて解析することにより、前記被検査体に搭載すべき部品に関する搭載状態の合否を判定する方法であって、前記検査ファイルに部品単位でフラグを設け、前記部品に関して搭載済または未搭載のうちいずれの状態が正常であるかを示す値を前記フラグにあらかじめ設定しておき、前記部品の搭載状態の検査で前記フラグを参照することにより、前記部品が未搭載だった場合でもその状態が正常である旨の欠品判定結果を出力可能にしたことを特徴とする部品検査方法。

IPC (2件)：

G01N 21/956 , H05K 13/08

FI (2件)：

G01N 21/956 B , H05K 13/08 U

Fターム (10件)：

2G051AA65 , 2G051AB14 , 2G051BA20 , 2G051CA03 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051DA07 , 2G051EA14 , 2G051EB01 , 2G051EB02

引用特許：

審査官引用 (7件)

基板検査方法およびその装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-355783 出願人：オムロン株式会社
特開昭63-135849
特開昭63-257808

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