特許

J-GLOBAL ID：200903040026236603

共焦点顕微分光装置

発明者： 駿河 正次 ,  三澤 弘明 ,  内田 達也
出願人/特許権者： 株式会社東京インスツルメンツ ,  科学技術振興事業団 ,  三澤 弘明 ,  内田 達也
代理人 (1件)： 小池 晃 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-130100
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321200
出願日： 1999年05月11日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：

【要約】【課題】 製造及び調整を容易なものとしつつ、高い感度で良好な質の信号が得られる共焦点顕微分光装置を提供する。【解決手段】 レーザ光源からの光束を集光させる第1の集光レンズ4と、この第1の集光レンズ4による集光点上に配置されるピンホール6と、このピンホール6内を通過して拡散する光束を試料S上に集光させる第2の集光レンズ7と、試料Sにより反射されて拡散し第2の集光レンズ7を経てピンホール6内に結像されこのピンホール6内を通過する反射光束を光電子倍増管3に導くビームスプリッタ8からなる共焦点顕微鏡を備える。

請求項（抜粋）：

レーザ光源からの光束を試料上の集光させ、この試料からの反射光束を結像させる共焦点顕微鏡と、上記反射光束について波長選択を行う波長選択手段と、上記波長選択手段により波長選択された上記共焦点顕微鏡による結像光を検出する検出手段とを備える共焦点顕微分光装置であって、上記共焦点顕微鏡は、レーザ光源からの光束を集光させる第1の集光手段と、この第1の集光手段による該光束の集光点上に配置されるピンホールを有するピンホールマスクと、このピンホールマスクのピンホール内を通過して拡散する光束を試料上に集光させる第2の集光手段と、該試料により反射されて拡散し前記第2の集光手段を経て前記ピンホール内に結像されこのピンホール内を通過する反射光束を上記検出手段に導く光束分岐手段とを備えていることを特徴とする共焦点顕微分光装置。

IPC (3件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/64 ,  G02B 21/00

FI (3件)：

G01N 21/27 E ,  G01N 21/64 E ,  G02B 21/00

Fターム (29件)：

2G043AA06 ,  2G043EA01 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043KA01 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G059AA02 ,  2G059EE02 ,  2G059EE03 ,  2G059FF01 ,  2G059FF03 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK02 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059LL04 ,  2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AB14 ,  2H052AB24 ,  2H052AC04 ,  2H052AC29 ,  2H052AC34 ,  2H052AD32 ,  2H052AF07

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 共焦点光スキャナ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-245105   出願人：横河電機株式会社
• 走査型光学顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-125150   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 顕微鏡用測光装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-228174   出願人：オリンパス光学工業株式会社