特許
J-GLOBAL ID:200903040488073742
遺伝子検出電界効果デバイスおよびこれを用いた遺伝子多型解析方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-026821
公開番号(公開出願番号):特開2005-218310
出願日: 2004年02月03日
公開日(公表日): 2005年08月18日
要約:
【課題】 高感度、かつ、高精度に遺伝子の検出解析が可能であり、しかも、遺伝子多型解析システムを従来よりも小型でコストをも抑えることのできる、新しい遺伝子検出電界効果デバイスおよびこれを用いた遺伝子多型解析方法を提供することを目的とする。【解決手段】 絶縁膜体(2)、半導体基板(3)および参照電極(4)が備えられている遺伝子解析電界効果デバイスであって、以下の構成:(a)絶縁膜体(2)は、その一方の面側に核酸プローブ(5)が固定化されているとともに、少なくとも1種類の検出解析の目的遺伝子(601)が含まれる試料溶液(6)に接触されていること;(b)半導体基板(3)は、前記絶縁膜体(2)の他方の面側に当接設置されていること;および(c)参照電極(4)は、前記試料溶液(6)中に備えられていること;を含んでなることを特徴とする。【選択図】図6
請求項(抜粋):
絶縁膜体、半導体基板および参照電極が備えられている遺伝子解析電界効果デバイスであって、以下の構成:
(a)絶縁膜体は、その一方の面側に核酸プローブが固定化されているとともに、少なくとも1種類の目的遺伝子が含まれる試料溶液に接触されていること;
(b)半導体基板は、前記絶縁膜体の他方の面側に当接設置されていること;および
(c)参照電極は、前記試料溶液中に備えられていること;
を含んでなることを特徴とする遺伝子検出電界効果デバイス。
IPC (6件):
C12N15/09
, C12M1/00
, C12Q1/68
, G01N27/414
, G01N27/416
, G01N33/53
FI (10件):
C12N15/00 A
, C12M1/00 A
, C12Q1/68 A
, G01N33/53 M
, C12N15/00 F
, G01N27/46 341M
, G01N27/30 301E
, G01N27/30 301V
, G01N27/30 301W
, G01N27/46 336M
Fターム (20件):
4B024AA11
, 4B024CA04
, 4B024CA09
, 4B024HA14
, 4B024HA19
, 4B029AA21
, 4B029AA23
, 4B029BB20
, 4B029FA15
, 4B063QA12
, 4B063QA18
, 4B063QQ42
, 4B063QQ52
, 4B063QR55
, 4B063QR62
, 4B063QR82
, 4B063QS25
, 4B063QS34
, 4B063QS39
, 4B063QX05
引用特許:
前のページに戻る