特許
J-GLOBAL ID：200903040659616375
パルス化されかつ光学的刺激化されたルミネセンスを用いた異常放射暴露の検出のためのシステム及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
社本 一夫 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-555110
公開番号（公開出願番号）：特表2002-518685
出願日： 1999年06月09日
公開日（公表日）： 2002年06月25日
要約：
【要約】本発明は、一般的に放射フィールドを像形成するためのルミネセンス技術に関し、詳細には、動的照射及び静的照射の区別-又は他の異常放射の区別-要員又は環境の放射線量測定における用途又は関連の分野に対する暴露条件の区別をするための実験的かつ数学的方法の使用に関する。特に、本発明は、著しいバックグラウンド干渉及び刺激光漏洩を回避しながら、異常な暴露条件を広範囲の放射線量にわたり検出する迅速で信頼性のある方法を提供する。更に、本発明の好適な実施形態は、パルス化されかつ同期化されたルミネセンス検出スキームを用いる。更に、本発明は、発光性の薄い粉末層の使用、周期的放射吸収フィルタの使用、パルス化された刺激及び同期化されたルミネセンス検出スキーム、及び記録された像の解析及び解釈方法を含む、異常な暴露検出のための完全な方法及びシステムを教示する。最後に、本システムは、正常な暴露又は異常な暴露を含むような像を数学的に特徴付ける手段を提供する。
請求項（抜粋）：
発光性検出器における空間線量分布を決定するための放射フィールド像形成方法であって、前記発光性検出器は発光材料の少なくとも1つの層から成り、前記発光材料は吸収された放射線量像を記憶することができる、放射フィールド像形成方法において、(a) 前記発光性検出器を吸収フィルタを介して照射することにより、記憶された線量パターンを前記発光材料内に生成するステップであって、 (a1) 前記吸収フィルタは、高い放射吸収領域と低い放射吸収領域とを有し、 (a2) 前記高い放射吸収領域と低い放射吸収領域は一緒で空間的に周期的なパターンを形成する、前記生成するステップと、(b) 前記発光材料からの少なくとも1つのルミネセンス放出を誘発するステップであって、前記少なくとも1つのルミネセンス放出は前記記憶された線量パターンを表す、前記誘発するステップと、(c) 前記少なくとも1つのルミネセンス放出の少なくとも1つを解析して、前記空間線量分布の推定を決定するステップとを備える放射フィールド像形成方法。
引用特許：
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