特許
J-GLOBAL ID：200903040703913196
粒子分散材料中の粒子充填構造の測定技術、及びそれを用いた評価装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-246644
公開番号（公開出願番号）：特開2002-062254
出願日： 2000年08月16日
公開日（公表日）： 2002年02月28日
要約：
【要約】【課題】 従来の粒子分散材料の測定技術が持つ欠点を改善し、粒子状材料の内部構造(粒子状材料の充填構造又は分散状態)を測定する方法を提供する。【解決手段】 不定形マトリックスを持つ粒子分散材料の内部構造(粒子状材料の充填構造又は分散状態)をその光学的異方性に基づいて観察し、測定する方法であって、粒子状材料を原料とし、液状材料に混合して得た粒子分散材料の内部構造(粒子状材料の充填構造又は分散状態)を、液状材料分子の局所的な再配列に基づく光弾性、又は粒子状材料と液状材料の屈折率差を利用して可視化し、観察することを特徴とする粒子分散材料の内部構造の測定方法、及びその測定原理を用いた評価装置。【効果】 液状材料を母材(マトリックス)又は分散媒とする粒子分散材料の内部構造(粒子状材料の充填構造又は分散状態)を観察する技術や評価装置を提供することができ、とくに内部構造同定の必要性の高い絶縁材料や半導体封止材料の構造解析技術、製造工程管理技術として好適である。
請求項（抜粋）：
不定形マトリックスを持つ粒子分散材料の内部構造(粒子状材料の充填構造又は分散状態)をその光学的異方性に基づいて観察し、測定する方法であって、粒子状材料を原料とし、液状材料に混合して得た粒子分散材料の内部構造(粒子状材料の充填構造又は分散状態)を、液状材料分子の局所的な再配列に基づく光弾性、又は粒子状材料と液状材料の屈折率差を利用して可視化し、観察することを特徴とする粒子分散材料の内部構造の測定方法。
IPC (4件)：
G01N 21/23
, G01N 23/04
, G01N 1/28
, G01N 23/225
G01N 21/23
, G01N 23/04
, G01N 23/225
, G01N 1/28 F
2G001AA03
, 2G001BA07
, 2G001BA11
, 2G001CA03
, 2G001GA06
, 2G001KA20
, 2G001MA04
, 2G001NA07
, 2G001RA01
, 2G001RA20
, 2G059AA05
, 2G059BB16
, 2G059BB20
, 2G059DD01
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059JJ19
, 2G059KK04
