特許
J-GLOBAL ID:200903040851290807

通流の分析方法および分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外4名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-549085
公開番号(公開出願番号):特表2003-518630
出願日: 2000年11月24日
公開日(公表日): 2003年06月10日
要約:
【要約】とりわけ通流速度成分を3次元検出するため、または液体またはガス中の通流を3次元可視化するため、通流を分析および定量化するための方法およびこの方法を実施するのに適した装置が提案される。このために電磁波、とりわけ光が少なくとも1つの検知装置によって、2次元周波数選択性または周波数バンド選択性に記録された画像(40,41,42,43)の形態で検知され、そこから通流が検出される。この光は、検知空間(25)に含まれ、分析すべき通流を特徴付ける粒子(30,31,32,33,34,35)から少なくとも部分的に発するかまたはこれにより散乱される。照明装置がこのために時間的に連続し、少なくとも近似的に平行であり、空間的に連続して配置された少なくとも2つの光面(19,18,17,20,21,22)を、周波数または周波数スペクトルの異なる電磁化により形成し、この光面が検知空間(25)を少なくとも領域的にサンプリングする。
請求項(抜粋):
検知空間(25)において通流速度成分を3次元検出するための、または液体中またはガス中の通流を3次元可視表示するための通流分析方法であって、 検知空間(25)に含まれ、通流を特徴付ける粒子(30,31,32,33,34,35)から少なくとも部分的に発する、または散乱される電磁波を検出する方法において、 時間的に連続して、少なくとも近似的に平行であり、空間的に連続して配置された少なくとも2つの光面(19,18,17,20,21,22)を、周波数の異なる、または周波数スペクトル鋸となる電磁波により形成し、 当該光面により検知空間(25)を少なくとも領域的にサンプリングする、ことを特徴とする分析方法。
IPC (3件):
G01P 5/20 ,  G01P 3/36 ,  G01P 13/00
FI (3件):
G01P 5/20 F ,  G01P 3/36 C ,  G01P 13/00 D
Fターム (3件):
2F034AA01 ,  2F034AB01 ,  2F034AC01
引用特許:
審査官引用 (5件)
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