特許
J-GLOBAL ID:200903041000654969
メモリ監視装置および方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-041090
公開番号(公開出願番号):特開2002-244934
出願日: 2001年02月19日
公開日(公表日): 2002年08月30日
要約:
【要約】【課題】 小規模なハードウェアで効率のよいメモリ監視が可能なメモリ監視装置および方法を提供する。【解決手段】 監視対象メモリ112のテストを行うアドレス領域を決定するアドレス領域決定手段102と、テストデータを生成するデータ生成手段104と、前記監視対象メモリのテストを行うアドレス領域に書き込まれているデータを一時的に記憶する退避レジスタ108と、前記データとテストデータを前記監視対象メモリの当該アドレス領域に対し書き込み/読み出しする処理を制御するデータ書き込み/読み出し制御手段106と、前記テストデータと、このテストデータを用いた監視対象メモリ112の当該アドレス領域に対する書き込み/読み出し処理後の出力結果との一致・不一致を判断するデータ比較手段110を備える。
請求項(抜粋):
監視対象メモリのテストを行うアドレス領域を決定するアドレス領域決定手段と、前記監視対象メモリのテストを行うアドレス領域に書き込まれているデータを一時的に記憶する退避レジスタと、前記データおよびテストデータを前記監視対象メモリの当該アドレス領域に対し書き込み/読み出しする処理を制御するデータ書き込み/読み出し制御手段と、前記テストデータと、このテストデータを用いた前記監視対象メモリの当該アドレス領域に対する書き込み/読み出し処理後の出力結果との一致・不一致を判断するデータ比較手段と、を含んで構成されていることを特徴とするメモリ監視装置。
IPC (6件):
G06F 12/16 330
, G06F 12/16 310
, G06F 12/16 320
, G01R 31/28
, G06F 3/06 304
, G06F 13/00 301
FI (8件):
G06F 12/16 330 C
, G06F 12/16 310 H
, G06F 12/16 320 K
, G06F 3/06 304 R
, G06F 13/00 301 U
, G01R 31/28 B
, G01R 31/28 D
, G01R 31/28 H
Fターム (25件):
2G132AA08
, 2G132AB20
, 2G132AC03
, 2G132AE14
, 2G132AE18
, 2G132AE22
, 2G132AG08
, 2G132AH02
, 2G132AL12
, 5B018GA03
, 5B018HA01
, 5B018KA02
, 5B018KA03
, 5B018QA04
, 5B065BA01
, 5B065CC03
, 5B065CC08
, 5B065CE11
, 5B065EC01
, 5B065EK03
, 5B083BB06
, 5B083CC06
, 5B083CE02
, 5B083EE03
, 5B083EE08
引用特許:
審査官引用 (5件)
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特開昭63-086052
-
特開昭63-086052
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RAMチェック方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-324944
出願人:富士通株式会社
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