特許
J-GLOBAL ID：200903041174053956

蛍光測定による劣化診断方法及び診断装置

発明者：
片桐 純一

片桐 純一 について

, 
竹澤 由高

竹澤 由高 について

, 
庄司 弘志

庄司 弘志 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (2件)： 作田 康夫 ,  井上 学
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-157000
公開番号（公開出願番号）：特開2005-337885
出願日： 2004年05月27日
公開日（公表日）： 2005年12月08日
要約：
【課題】 蛍光測定により、被測定物の劣化度を高精度に診断することができる。また、蛍光測定を行う簡便な装置で、被測定物の劣化度を非破壊で診断することが可能である。【解決手段】 蛍光測定を2波長間の蛍光強度差あるいは比の変化量で評価することにより、被測定物の劣化度を高精度に診断することが可能となる。また、蛍光測定を行う簡便な装置として、励起光にキセノンランプ等の紫外線照射ランプを用い、蛍光検出器に小型の分光器を用いて被測定物の蛍光強度を測定することで劣化度を非破壊で診断することが可能となる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
測定部材の蛍光強度を測定し、予め求めておいた蛍光強度と劣化度とを比較演算することにより劣化度を診断する蛍光測定方法において、励起光を測定部材の表面に照射し、測定部材から発生する蛍光強度を特定の2波長間における蛍光強度差(ΔIλ)あるいは蛍光強度比(Iλ′)を(数1)式または(数2)式を用いた値と予め測定した値と劣化度との関係を比較演算することにより、測定部材の劣化度を診断する蛍光測定による劣化診断方法。 ΔIλ=Iλ1・α1-Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数1) Iλ′=Iλ1・α1/Iλ2・α2 (ただし、λ1>λ2) (数2) I:被測定物の蛍光強度 ここで、α1,α2は予め算出した蛍光強度差または蛍光強度比と劣化度との関係式で用いた基準蛍光強度(I0)と測定時の基準蛍光強度(I1)との各波長での比 α1=I0λ1/I1λ1 (数3) α2=I0λ2/I1λ2 (数4)
IPC (1件)：
G01N21/64
FI (1件)：
G01N21/64 Z
Fターム (17件)：
2G043AA03 ,  2G043BA14 ,  2G043CA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA13 ,  2G043FA06 ,  2G043FA07 ,  2G043HA05 ,  2G043JA01 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (3件)

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