特許
J-GLOBAL ID：200903041379136072
試料前処理方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
岡田 数彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-307906
公開番号（公開出願番号）：特開平11-125588
出願日： 1997年10月21日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】透過型電子顕微鏡によるプラスチックスの微細構造観察のための試料前処理方法であって、従来の前処理では観察できなかった、樹脂の立体的な結晶形態の観察やブレンド樹脂の微細な相分離構造の観察を可能にする試料前処理方法を提供する。【解決手段】染色固定したプラスチックス試料から透過型電子顕微鏡で観察可能な薄切片をウルトラミクロトーム等で作成し、当該薄切片をイオンエッチングする。イオンエッチングは、低真空下で交流の高電圧を印加して残留酸素をイオン化し、イオン化された酸素粒子を薄切片試料に照射する。
請求項（抜粋）：
透過型電子顕微鏡によるプラスチックスの微細構造観察のための試料前処理方法であって、染色固定した試料から透過型電子顕微鏡で観察可能な薄切片を作成し、当該薄切片をイオンエッチングすることを特徴とする試料前処理方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 1/28 G
, G01N 1/32 B
